有关ASL－1000测试运放V IO的补充方案.pdf

有关ASL-1000测试运放V的补充方案 IO V of IO ASL-1000 王卫民 刘文豫 (国电公司南京自动化研究院 江苏 南京 210003) (The National Power Corporation, Nanjing Automation Research Institute,Nanjing 210003,China) 摘 要 在运算放大器输入失调电压 VIO 的测试中 传统测试设备采用 被测器件 辅 助运放 的模式 籍以构成稳定的负反馈网络 从而使 DUT的输出电压嵌位于预 置电压 而ASL-1000通过独创的电位平衡电路和相位补偿电路同样实现了DUT的 输出嵌位 完成了由间接测试向直接测试的转化 本文针对VIO 已经失效的芯片 提出了利用ASL-1000现有的硬件资源 在软件上加严判据的失效筛选方法 作为 Credence方案的补充 Abstract: In the test of theinputoffsetvoltageVIO of OP AMP, equipments take the test mode of“DUT-auxiliary OP AMP” which makes a stable negative feedback network, sothe DUT will beclampedat the provisionWhile thevoltage.ASL-1000 which has uniquely developed the“equilibriumpotential circuit” and the“phase compensating circuit” can also complete has failed inVIO dition 关键词 输入失调电压 辅助运放 稳定 嵌位 预置电压 失效 Key words:inputoffsetvoltage,auxiliary OP AMP, stability, Clamping, provisionoltage ,failurev 中图分类号 TN 722.7 7 文献标识码:A ASL- 1000 是美国 Credence 公司研制的IC 测试设备 已在世界各地得到广泛应用 在运算 放大器电路 以下简称运放 的失调电压参数测试中 有其独到之处 GB3442 86 中 将运放的输入失调电压 VIO 定义为 使输出电压为零 或规定值 时 两输入端间所加的直流补偿电压 由于 VIO 常为 mV 级 传统测试设备大都采用 被测器件 (DUT Device Under Test) 辅助运放 的模式 将mV 级的小电压转化为伏特级的电压进行测 试 测试原理图如图 1 所示 图1 传统的运放VIO 测试原理图 由于辅助运放A 的作用 整个系统构成稳定的负反馈网络 从而使D 点与辅助运放反向端 电位相等 即V =0 则 D V =-V ﹒R R 式 1 C S1 1 2 这样 可以通过外加电源VS1 来控制DUT 的输出 当VC 为零 或规定值 时