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自动校准和抗干扰技术 1、计算机测控系统的主要功能和工作过程 2、衡量计算机测控系统的基本技术指标 测量的准确度 可靠性 用测量误差来衡量 抗干扰能力，错误定位 找出误差源，进而进行校准 硬件和软件措施 自动校准和抗干扰技术 1 误差校准和自检 2 测控系统的内部自动校准 3 测控系统的抗干扰技术 1 误差校准和自检 1.1 测控系统的系统误差及其校准 偶然误差 一、测量误差的类型 系统误差 1、偶然误差：由于周围环境和测控系统 内部的偶然因素的作用而造成的。 2、系统误差：由于测控系统内部和外部 的固定不变或按确定规律变化的因素的作 用造成的。 1 误差校准和自检 1.1 测控系统的系统误差及其校准 偶然误差 一、测量误差的类型 系统误差 二、测量误差的校正 1、偶然误差：稳定测量环境； 在规定的条件下多次测量 2、系统误差：校准 三、校准的实现方法 1 误差校准和自检 1 测控系统的系统误差及其校准 三、校准的实现方法 1、根据系统误差的变化规律，采用一定的测 量或计算方法，将它从测量结果中扣除。 2、用准确度等级高的仪器或系统来修正准 确度低的测控系统。 1 误差校准和自检 1.1 测控系统的系统误差及其校准 1.2 系统故障的检测和诊断 一、系统故障的种类 硬件故障 软件故障 二、引起系统故障的原因 1、外因：空间强电磁场 电网电压的变化 机械振动 温度 湿度 2、内因：元器件和电路板的老化 软件设计的问题 1 误差校准和自检 1.2 系统故障的检测和诊断 一、系统故障的种类 二、引起系统故障的原因 三、故障检测和故障定位 故障检测：确定测控系统是否存在故障。 故障定位：确定故障发生的具体位置。 1、故障定位的细度 2、故障检测和定位方法及原理 自检（BIT） 测试设备 1 误差校准和自检 1.3 测控系统故障的自检（BIT） 一、检测时机 上电自检 周期性自检 连续监控 二、检测内容 1、数字电路部件 2、模拟电路部件 3、系统软件 三、检测方法 1 误差校准和自检 1.3 测控系统故障的自检（BIT） 三、检测方法 1、CPU功能的自检 2、存储器的自检 程序存储器 数据存储器