可控硅元器件检验标准.doc

可控硅元器件检验标准 1、适用范围：适用于我公司生产电子开关及同类型产品中采用可控硅的基本要求、检验方法、检查水平(IL)、可接收质量水平（AQL）、检验规则。并按相应规定将各种规格可控硅进行选择。 序号 检验项目 标准内容 检验 方法 IL AQL%值 MIN MAJ CR 封装 晶体管封装外观无损伤、无沙眼、无废边等缺 陷存在。参样品 目视 游标 卡尺 放大镜 S-4 0.1 切筋 切筋准确，无毛边、毛刺等缺陷。参照样品 S-4 4. 引脚 晶体管管脚无断裂、氧化现象，引脚间无搭焊， 折弯1次后不能有断裂痕迹。参照样品 S-4 4. 印记 可控硅印记清晰正确且牢固。参照样品 S-4 4. 芯片面积 打开可控硅查看芯片应与封样品一致。参照样 品及下表参数 S-4 0.1 可焊性 上锡面积大于应上锡面积的95%，且在引线上 端润湿的情况下，焊料能自由流动 槽焊法: 240℃ S-4 0.65 3、单向可控硅电参数检验 : 2、外观检验： 表1： 序号 检验项目 检测方法 MCR308 TO-92 MCR100-8 TO-92 MCR22-8 TO-92 YCR02 TO-92L IL AQL%值 MIN MAJ CR 芯片面积mm2 游标卡尺 放大镜 0.8X0.8 0.9X0.9 1.3X1.3 1.5X1.5 S-4 0.1 断态重复峰值电压VDRM IR=50μA QT-2 图示仪 ≥600 V ≥600 V ≥600 V ≥600 V S-4 0.1 通态峰值电压VTM 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V S-4 4. 维持 电流IH IT=0.1A, IGT=0.12mA 5 mA 5 mA 5 mA 5 mA S-4 4 控制极触发电流IGTI VAK=6V, RL=100Ω 10-100uA 10-100uA 10-100uA 10-100uA S-4 0.1 控制极触发电压VGTI VAK=6V, RL=100Ω 0.4-0.8 V 0.5-0.8 V 0.5-0.8 V 0.5-0.8 V S-4 4. 表2  续表2 序号 检验项目 检测方法 MCR308 TO-92 MCR100-8 TO-92 MCR22-8 TO-92 YCR02 TO-92L IL AQL%值 MIN MAJ CR 控制极不触发电压VGD VDRM=400V,RGR=1KΩ, 0.1 V 0.1 V 0.1 V 0.1 V S-4 4. 通态平均电流IT 自制夹具QT-2图示仪 0.6A 0.8A 1.5A 2.0A Ⅱ 0.1 通态不重复浪涌电流ITSM ≥6A ≥8A ≥15A ≥20A S-4 0.65 结温TJ 红外温度测试仪 110℃ 110℃ 110℃ 110℃ S-4 0.65 反向重复峰值电压VRRM IR=50μA QT-2图示仪 ≥600 V ≥600 V ≥600 V ≥600 V Ⅱ 0.65 脚位排列 万用表 A G K A G K A G K A G K Ⅱ 0.1 4、双向可控硅电参数检验 : 表3: 序号 检验项目 检测方法 MCR97A6 TO-92 BT134 TO-220 BT136 TO-220 BTA06 TO-220 IL AQL%值 MIN MAJ CR 芯片面积mm2 游标卡尺 放大镜 1.3X1.3 1.9X1.9 2.5X2.5 2.9X2.9 S-4 0.1 断态重复峰值电压VDRM QT-2图示仪IR=50μA ≥600 V ≥600 V ≥600 V ≥600 V S-4 0.1 通态峰值电压VTM IT=6A 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V 1.1?-1.7V S-4 4. 续表3: 序号 检验项目 检测方法 MCR97A6 TO-92 BT134 TO-220 BT136 TO-220 BTA06 TO-220 IL AQL%值 MIN MAJ CR 维持电流IH IT=0.1A,IGT=20mA 8mA 15 mA 15 mA 50 mA S-4 4. 控制极触发电流IGTI VAK=6V,RL=100Ω 1-10mA 1-10mA