（十二）发明专利申请.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号CN 103955057 A (10)申请公布号 CN 103955057 A (43)申请公布 日 2014.07.30 (21)申请号 201410125688.6 (22)申请 日 2014.03.31 (71)申请人 中国科学院物理研究所 地址 100190 北京市海淀区中关村南三街八 号 (72)发明人 李明飞 吴令安 (74)专利代理机构 北京智汇东方知识产权代理 事务所 (普通合伙) 11391 代理人 范晓斌 薛峰 (51) Int.C l. G02B 27/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 权利要求书2 页 说明书7 页 附图3 页 (54) 发明名称 一种关联成像系统 (57) 摘要 本发明提供了一种关联成像系统，用于利用 热光源对待成像物体进行关联成像，包括：物臂 光路，其中设有第一桶探测器和待成像物体，第一 桶探测器采样物臂光路中经过待成像物体后的总 光场强度信号Sm ；第一参考臂光路，其中设有采 样第一参考臂光路的光场强度分布信息的参考探 测器装置；参考探测器装置包括至少一个参考探 测器单元，每一参考探测器单元包括时序控制器 和由其控制的多个具有空间分辨能力的参考探测 器，在时序控制器控制下多个参考探测器能依次 进行曝光以进行采样。本发明采用多个参考探测 器按时间顺序交替曝光，使得曝光帧率可迭加起 来，突破了现有参考探测器在采样速度上的限制， 从而大大提高了采样速度，缩短了成像时间。 A A 7 7 5 5 0 0 5 5 5 5 9 9 3 3 0 0 1 1 N N C C CN 103955057 A 权 利 要 求 书 1/2 页 1. 一种关联成像系统，用于利用热光源（1）对待成像物体（3）进行关联成像，包括： 物臂光路，所述物臂光路中设有第一桶探测器（45）和所述待成像物体（3），所述第一 m 桶探测器（45）用于采样所述物臂光路中经过所述待成像物体（3）后的总光场强度信号S ， m 表示采样次序 ； 第一参考臂光路，所述第一参考臂光路中设有用于采样所述第一参考臂光路的光场强 度分布信息的参考探测器装置； 其中，所述参考探测器装置包括至少一个参考探测器单元（15、16），每一所述参考探测 器单元（15、16）包括时序控制器和由所述时序控制器控制的多个具有空间分辨能力的参考 探测器 ；其中，在所述时序控制器控制下所述多个参考探测器能依次进行曝光以进行所述 采样。 2. 根据权利要求1 所述的关联成像系统，其中， 每一所述参考探测器单元还包括：分束装置，用于从所述第一参考臂光路中分出并列 的多个子参考光路，每一所述参考探测器分别布置在对应的所述子参考光路中。 3. 根据权利要求1-2 中任一项所述的关联成像系统，其中，还包括： 第二参考臂光路，所述第二参考臂光路中设有第二桶探测器（78），用于采样所述第二 m 参考臂光路的总光场强度信号R ；和