Optima5300DV光谱定性和定量分析的化学计量学要领研究.pdf

摘要 ICP．AES是高浓度基体中痕量杂质定性定量分析的重要方法之一。本 文综述了ICP．AES常用定性分析方法，以及定量分析中解析ICP．AES光谱， 消除光谱干扰，改进测定准确度的各类方法，研究了多元光谱拟合(MsF) ．ICP．AES测定高浓度稀土La、Ce、Yb基体中其它稀土元素的校正极限， 以及偏最小二乘法(PLS)．ICP．AES测定高浓度基体中杂质元素的方法， 体工作如下： 1、测定了54种元素共228条谱线的检出限。实验表明，大多数谱线 的径向观测检出限低于《图册》检出限(径向)；绝大多数谱线的轴向观测 检出限比《图册》检出限低近一个数量级，少数谱线低近两个数量级，仅 有7条谱线的轴向观测检出限高于径向观测检出限；另外，绝大多数谱线 的轴向观测检出限低于径向观测检出限，但极少数落在NO、OH、NH或 N2+等自由基和分子离子发射带的谱线，其径向观测检出限要优于轴向观测 检出限。 性分析方法。用MsF技术校正光谱干扰，以同元素不同分析线测定浓度值 的相对标准偏差(R．妨)或浓度相对差(R6)为定性分析参数，当被测元 T 素浓度高于仪器检出限，且脓100％或R冰67％时，即可认为该元素存在。 用本方法对水系沉积物GBW07312及7种合金样品进行元素定性分析，准 确率在95％以上。 3、考察了La、Ce和Yb等基体元素对稀土杂质元素测定的光谱干扰。 在杂质元素谱线窗口内，La、Ce和Yb所产生的干扰线总数量比文献报导 的少，且当基体元素浓度增大时，在杂质元素谱线窗口内出现一些未曾报 道过的谱线。经多元光谱拟合(MSF)法校正，基体元素的光谱干扰得到 有效消除，杂质元素的检出限明显降低，但仍达不到没有La、Ce和Yb时 的水平。当测定质量浓度为O．100 pg·111Ld杂质元素时允许质量浓度为 1000～2000嵋·InL以基体元素存在，当被测的杂质浓度进一步降低时允许基 体元素的最高浓度也随之降低。建立MSF模型时，应使建模溶液中杂质元 素浓度是这些元素检出限的100倍，基体元素浓度接近实际样品中基体的 存在量，MSF建模数据与样品测定数据还须在同一实验条件下完成。 4、建立了ICP．AES测定高浓度基体中微量杂质元素的偏最小二乘方 法。研究表明，PLS能有效消除基体的干扰，且它对基体浓度的容忍能力 率仍在95％～105％之间。对于非线性相关的体系，普通PLS的预测准确度 会降低，但是使用基于样品浓度矩阵变换的LIN-PPLS，明显改善了预测准 12中的 于MSF。 Ⅱ 关键词：稀土电感耦合等离子体原子发射光谱法多元光谱拟合定性 分析定量分析偏最小二乘法 m ON N住!THODSOF RESEARCHCHEMON旺!TIUCS A-ND ANA工．YSIS QUANTITATIⅦSPECTRAL QUALITATIVE ⅥTHOPTIⅣ【A5300DV ABSTRACT isoneoft11e methodsof ICP—AES qualitatiVe important quantitatiVe锄d reViewsthe for仃ace i11 matrix．Tms analysis impu打tieshi曲concen僦ionpaper cornmon m