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清华大学材料分析200505结构分析
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当采用CuKα作为X射线源,波长为0.154nm,衍射角的2θ为25.30 °,测量获得的半高宽为0.375 °,一般Sherrer常数取0.89。
D101=Kλ/B1/2cosθ=0.89×0.154×57.3、(0.375×0.976)=21.5 nm。;晶粒大小测量的衍生;晶粒度测量的例子LaCoO3;小角X衍射;TiN/AlN纳米多层膜的XRD小角度衍射谱 ;黏土的小角XRD衍射图;XRD研究介孔结构;小角衍射测定介孔结构;物相测定;应用方面;具体方面;材料物相的指标化;纳米材料的合成(LaCoO3);;纳米线的结构;介孔材料研究;薄膜催化剂研究;单层分散研究;电子衍射分析;LRS结构分析;结构分析内容提要;The END
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