TS16949 SPC 作业 全部.doc

1 有一 个 控制图的子组大小n=5，相应的两条中心线分别为： 如今为节约成本和时间需将子组大小改为n＇=3。 请分别计算原控制限和修改控制限值。 当原子组n=5时： 当子组n＇=3时： 2 设某金属零件的长度是一个重要的质量特性。为对其进行控制，在生产现场每隔一小时连续测量n=5件产品的长度，此 零件的规范为1.20mm，下规范为0.97mm，在 下表中(单位：微米)．分别作 ，并根据作出的 图，分析 图和 R 图各点的情况看看否受控，如果有点超过，应说明大概是什么类型的原因，并要重新将点去掉重新算和画控制图。计算Cpk=?,并说明过程能力指数够不够？请问此两种控制图是计量型还是计数型？这两种控制图的各自的作用分别是针对什么？ 题2数据及计算表 序号i 规范公差为1.20mm,0.97mm 测量值要加1.00,如下列数据12，则为1.12mm X平均数 极差R X1 X2 X3 X4 X5 1 12 8 5 12 30 2 11 13 8 11 4 3 10 3 6 2 7 4 12 12 6 12 4 5 6 9 6 5 5 6 8 11 8 9 2 7 10 9 6 3 7 8 7 12 9 1 3 9 5 9 11 6 7 10 7 7 6 11 11 11 10 13 9 12 15 12 4 7 6 8 13 13 8 4 13 7 11 14 8 4 7 7 4 15 10 6 9 10 14 16 14 7 8 6 5 17 1 11 2 8 8 18 5 6 3 10 6 19 6 7 4 7 10 20 12 7 9 9 13 21 3 11 6 12 6 22 4 2 5 9 8 23 7 12 7 11 10 24 4 5 8 9 7 25 5 9 6 12 5  3 某酸洗车间的产品质量与酸洗浓度关系密切，因此控制酸洗浓度不低于8％是关键，但浓度过高也会增加成本。由于浓度在短时间内不会改变，决定每隔2小时测量一次酸洗浓度，共测24次，其单值序列与移动极差序列见21．2．6的下方。 4 一个生产晶体管的公司决定建立不合格品率p图。每天生产结束后，在当天产品中随机抽取一个样本，并检查其不合格率，这样连续26个工作日，获得的数据列于 表21.3.2。对这组数据处理如下： a）计算每个样品的不合格品率Pi。列表21.3.2中。 b）计算平均不合格品率： C）计算每个样品的UCL与LCL： 具体结果列于表21.3.2的最后两列。 d）对每个样本标绘其UCL与LCL是相当耗时的工作。但可从表 21.3.2能观察到，第17号与第26号样本的不合格品率已超出了相应的上控限制。查找原因后，应剔去这两个样本。 晶体管的p图（初始数据） 子组号 i 检查数 ni 不合格品数 npi 不合格品率 pi UCL LCL 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 158 140 140 155 160 144 139 151 163 148 150 153 149 145 160 165 136 153 150 148 135 165 143 138 144 161 11 11 8 6 4 7 10 11 9 5 2 7 7 8 6 15 18 10 9 5 0 12 10 8 14 20 0.070 0.079 0.057 0.039 0.025 0.049 0.072 0.073 0.055 0.034 0.013 0.046 0.047 0.055 0.038 0.091 0.132 0.065 0.060 0.034 0.000 0.073 0.070 0.058 0.097 0.124 0.117 0.120 0.120 0.177 0.116 0.119 0.120 0.118 0.116 0.119 0.118 0.118 0.118 0.119 0.116 0.115 0.121 0.118 0.118 0.119 0.121 0.115 0.120 0.121 0.119 0.116 0.003 0.000 0.000 0.003 0.004 0.001 0.000 0.002 0.004 0.001 0.002 0.002 0.002 0.001 0.004 0.005 0.000 0.002 0.002 0.001 0.000 0.005 0.000 0.000 0.001 0.