数字逻辑系统实验.ppt

数字逻辑实验 北京邮电大学 计算机科学与技术学院系统结构实验室 TDS-1数字电路实验系统简介 TDS-2数字电路实验系统简介 TEC-5计算机组成与数字逻辑实验系统简介 实验系统简介 实验系统简介 实验系统简介 逻辑测试笔 逻辑测试笔使用说明 将黑色鱼夹接地，红色接被测设备的正5V电源。 本产品寻找故障的方法有两种：一种是先用逻辑笔检出关键信号（如时钟、起动、移位、复位）丢失的地方，根据被测设备的逻辑原理把故障缩小到一个较小的范围内，再对被怀疑的组件配合脉冲笔进行脉冲注入——响应测试，判断组件的好坏。另一种方法是先对某串电路进行脉冲注入——响应测试，看信号能否从始端送到终端，用同样方法检查每一串电路，直到把故障找出来。 逻辑测试笔使用说明 若需拆卸，先把电源插座上的螺帽旋下，然后旋开笔壳与探针即可维修。 注：①、当测试TTL电路逻辑笔的开关拨到标有“TTL”的一侧，测试CMOS电路将开关拨到标有“CMOS”的一侧。 ②、逻辑笔测试电平指标与TTL和CMOS标准相一致。②、逻辑笔测试电平指标与TTL和CMOS标准相一致。 GOS-6051 50MHz双踪示波器简介 TDS 1001数字存储示波器简介 实验一 基本门电路与三态门 实验目的 ： 1. 掌握TTL与非门，或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系； 2. 熟悉TTL中，小规模集成电路的外形，管脚和使用方法； 3. 掌握三态门逻辑功能和使用方法； 4. 掌握用三态门构成总线的方法和特点； 5. 掌握TEC-5数字电路实验系统的使用方法； 6. 初步学会用示波器测量简单数字波形。 集成电路芯片简介 数字电路实验中所用到的集成电路芯片都是双列直插式的。现以74LS00芯片为例，其引脚排列规则如图所示： 实验一 基本门电路与三态门 实验器件和设备： 四2输入与非门：74LS00； 四2输入或非门：74LS28（02）； 四2输入异或门：74LS86； 四总线缓冲器（三态输出）：74LS125； TEC-5数字电路实验系统； TDS 1001数字存储示波器。 实验一 基本门电路与三态门 实验内容： 分别测试74LS00，74LS28（02），74LS86一个逻辑门的输入与输出之间的逻辑关系； 用示波器观察测量输入、输出波形，计算出TTL与非门的每个门的平均延迟时间。 实验一 基本门电路与三态门 当74LS125的输出负载为74LS00一个与非门输入端，当与非门另一输入端分别接高，低电平时，测试74LS125的三态输出和74LS00的输出； 用74LS125两个三态门构成一条总线。两控制端分别由高，低电平控制；两输入端分别接1MHz，500KHz信号；用示波器观察三态门的输出波形。 实验一 基本门电路与三态门 实验提示： 注意认清所用器件型号和管脚，Vcc与实验台的+5V插孔连接，GND与实验台的GND连接； 实验台的电平开关输出作为器件的输入，拨动开关则改变器件的输入电平； 器件输出接实验台的电平指示灯，“1”亮，“0”灭； 74LS125的控制端G为低电平有效。 实验一 基本门电路与三态门 四2输入与非门74LS00 ： 实验一 基本门电路与三态门 74LS00实验电路： 实验一 基本门电路与三态门 四2输入或非门74LS28(02) ： 实验一 基本门电路与三态门 74LS28(02)实验电路： 实验一 基本门电路与三态门 四2输入异或门74LS86 ： 实验一 基本门电路与三态门 74LS86实验电路： 实验一 基本门电路与三态门 四总线缓冲器(三态输出)74LS125： 实验一 基本门电路与三态门 74LS125实验电路： 实验一 基本门电路与三态门 74LS125构成总线实验电路： 实验一 基本门电路与三态门 实验报告要求： 画出实验接线图或逻辑电路图； 真值表表示出实验结果； 记录实验现象； 分析实验结果； 实验二 数据选择器和译码器 实验目的 ： 熟悉数据选择器的逻辑功能。 熟悉译码器的逻辑功能。 实验二 数据选择器和译码器 实验器件和设备: 双4选1数据选择器74LS153； 双2线-4线译码器74LS139； TEC-5数字电路实验系统； TDS 1001数字存储示波器。 实验二 数据选择器和译码器 实验内容: 测试74LS153中一个4选1数据选择器的逻辑功能。 测试74LS139中一个2-4译码器的逻辑功能。 实验二 数据选择器和译码器 实验提示: 74LS153的数据输入端C0~C3分别接实验台上的10MHz, 1MHz, 500KHz, 100KHz脉冲源，改变数据选择端A, B和使能端G的电平，观察各组合条件下数据选择器的输出波形。 74LS139的译码输出Y0~Y3接电平指示灯，