IGBT故障状态测试分析.doc

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IGBT故障状态测试分析

IGBT故障状态测试? 1 引言 变频器的应用日益普及,相应的维护及维修工作也越来越重要。在变频器的故障状态中,有一种是igbt模块故障。针对这种故障,本文给出了几种模块故障检测的方法,以方便维修人员检修及维护。 在所有的变频器及交流伺服驱动器中,内部主电路无非是三相(或单相)整流桥+三相igbt逆变桥。依据这种电路结构,针对不同的功率等级,可以有很多种模块选择方式,以下予以分述。 (1) pim结构 这是一种小功率变频器主要采用的结构,结构特点是三相整流桥,制动单元,温度检测,三相igbt逆变桥全部集成在一个模块上,以富士半导体公司的7mbr25sa120为例,图1为模块内部电路结构,7个驱动单元采用光耦隔离驱动。 图1 模块内部电路结构 (2) 六或七单元igbt结构 这种模块主要用于中小功率变频器,结构特点是三相整流桥,制动单元为外置模块,igbt模块为六或七单元igbt结构。以富士半导体公司的6mbi75ua-120为例,图2为模块内部电路结构,6个驱动单元采用光耦隔离驱动。 图2 模块内部电路结构 (3) 一或二单元igbt结构 这种模块主要用于中大功率变频器,结构特点是三相整流桥,制动单元为外置模块,igbt模块为一或二单元igbt结构,变频器采用六或三个igbt模块组成三相逆变桥。以富士半导体公司的6mbi75ua-120为例,图3为模块内部电路结构,2个驱动单元采用光耦隔离驱动。 图3 6mbi75ua-120模块内部电路结构 (4) ipm结构 这种模块主要用于中小功率变频器,结构特点是驱动单元内置,模块内部电路可以是以上的任何一种电路结构。以富士半导体公司的6mbp100ra-060为例,图4为模块内部电路结构,6个驱动单元内置,但需提供独立的驱动电源。 图4 6mbp100ra-060模块内部电路结构 针对以上不同的igbt模块结构,故障判断测试可以简化为单个igbt单元测试和单个ipm单元测试,具体如下: (1) igbt的主要测试参数 vces:g,,s短路,igbt的反向击穿电压; cies:igbt的g,,s间电容; frd:igbt的反并联二极管; igbt的控制导通与截止特性。 (2) igbt的主要参数测量方法 ●采用图示仪等仪器测量 vces,cies,frd可以很方便的测量,igbt的控制导通与截止特性可以通过图示仪给出电压阶跃信号控制igbt的控制极而方便测量。 ●采用500型指针万用表等简易测量 cies,frd可以很方便的测量,vces无法测量。igbt的控制导通与截止特性可以采用如下办法:先将g,,s间短路,而后释放,以确保g,,s间无电荷,将500型指针万用表的量程打在“1k”电阻档,“红”表笔接igbt的“e”极,“黑”表笔接igbt的“c”极,此时表指针应无摆动,指示电阻值无穷大,再用手或其他导体将“c”极与“g”极短接后释放,指针表应有电阻值指示,且指示值应停住不动,以上过程能证明igbt的开通能力基本正常;此时再将g,,s间短路,表指针应回位,指示电阻值无穷大,而后再释放g,,s间短路块,表指针应不动,仍然指示电阻值无穷大。以上过程能证明igbt的关断能力基本正常。 (3) ipm的主要参数测量方法 由于ipm内部含驱动单元,外部无法得到“g,”端子,因此,ipm必须在外加控制电源及控制信号后才能测vces及igbt的控制导通与截止特性;在无电源及控制信号时严禁在图示仪上测vces,因为此时相当于内部igbt的“g,,s”间开路,用高压测vces极易损坏igbt。

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