SPC统计过程分析指导书.doc

德信诚培训网更多免费资料下载请进： HYPERLINK / 好好学习社区SPC统计过程分析指导书1目的在过程中正确使用统计技术，对过程加以监控，以利于及时发现问题，采取措施，持续改进过程质量2范围本指导书适用于公司过程中使用的统计技术均值-极差控制图（X-R）与不合格品率控制图（P图）指导。3术语3.1总体指重要研究对象的全体，又称母体。3.2样本从总体中随机抽取出来的，对其进行测量和分析的一部分产品。3.3样品又称个体。样本中的每一单位产品。3.4样本大小又称样本容量，一个样本容量，一个样本中所包含的样品数量。3.5样本数为研究一个整体，所制取的样本数量。3.6过程能力过程处于稳定状态下，在经济及其它条件允许范围内，保证产品质量的能力。4职责4.1技术部负责制定现场使用的统计技术类型，并制定控制限及有关性能力指数计算，并制定未满足要求时的改进计划。4.2质量管理部负责现场统计技术应用的监控。4.3生产部负责现场统计技术的应用和管理。4.4人事资源部负责组织对现场使用的统计技术应用进行培训。5管理内容5.1X-R的制作方法5.1.1确定控制项目（按控制计划规定项目进行）。5.1.2收集数据，数据取样方法和注意事项：取样必须具有代表性，取样原则上按不同的设备、操作人员、原料等分别取样，以免除异常因素带来的误差，样本大小3个，样本组数为12个，一般按产品生产顺序或测定顺序，排列数据。5.1.3将收集数据分组记入表中（表格见附录A）5.1.4计算平均值X-、极差R、总平均值X--、平均极差R-。5.1.5计算控制界线均值控制图中心线CLX=X-均值控制图上控制线CLX=X--+A2R-均值控制图下控制线CLX=X---A2R-极差控制图中心线CLR=R-极差控制图上控制线UCLR=D4R-极差控制图下控制线LCLR=D3R-A2、D3、D4分别从附录A表中查得5.1.6绘制控制限5.1.7描点5.1.8控制图分析如果所有的控制点均在控制界线内随机分布，则可以此作为控制过程控制图。与现有规格比较A.如果控制界线在规格范围内，分布中心与规格中心基本重合，可认为过程能力满足格要求，可以作为正常过程控制用图。B.如果各控制点都在控制界限内，呈随机分布，可以判定过程在受控状态内。C.如果有超出控制界限的控制点，则应作如下工作：a).对此异常点进行分析并加以处理，并要有预防措施。b).X控制图有超出界限控制点时，表示过程平均值发生变化或变异增大。 c).R控制图有超出界限控制点时，表示过程变异增大。D.如果过程控制要求发生变化，如设备、人员、原料等因素，此时应对控制界限重新收集数据进行计算，找出客观的控制界限。5.1.9现场应用应用控制图的工序，操作者/检查员按控制计划或作业指导书要求的频次取样测量，记录实测结果，并计算平均值（X）和极差（R）分别描点。5.1.10控制图的分析和判断过程受控的判断准则A.点没有跳出控制界限B.点在控制界限内，排列无异常出现下列情况时,则认为过程发生变化,必须对这种类变化查明原因,并加以消除。A.点跳出控制界限(在控制界限上的点,按跳界处理)B.点虽没有跳出控制界限，但排列有缺陷。重点对点排列有缺陷现象进行分析--预防链:同类型的点接连不断的出现,链分两种:连续链和间断链5.2P图的制作方法5.2.1选择控制项目(依据控制计划执行)5.2.2收集数据:可以参考以往数据，检验数和不合格数一般至少20组以上。5.2.3数据分组:注意做好数据层列，建议以每天或每班的产品为一组。样品数要比计量值控制图多,如果样品数太少时可能抽不到不合格品,而误认为过程良好5.2.4计算各组的不良率P=d/n(d表示每组的不良率,n表示每组检验数)5.2.5计算平均不合格率P样本含量n注意:由于各组样本含量n可能不同,应以这样的公式计算6相关文件《SPC手册》7使用表单X-R图计量型控制图的分类特点和应用范围类 型优 点缺 点应 用 范 围均值—极差图X—R图较简便，用途广；对子组内特殊原因敏感。粗糙，用极差代替标准差时，分析误差大。应用广泛；均值—标准差图X—S图S较R更准确有效；特别对大样本时更好；繁琐，大样本计算量大，无计算机时，不宜现场操作。子组容量n≥10时，可用S代替R，可用于检测时间远比加工时间短的场合。中位数—极差图—R图最简便，用中位数代替均值，只需排序，无需计算，省事。很粗糙。分析误差最大。用于车间工人现场操作，单值—移动极差图X—MR图以单值代替均值，用移动差代替极差，方便，对变差反映最灵敏。检验水平粗糙，是计量型控制图中最粗糙的。用于测量费用很高的场合和无需取多个样品的场合。如化验同一炉钢水的质量。计数型控制图的分类特点和应用范围类 型优 点缺 点应 用 范 围不合格品率图