《通用量具培训》课本.ppt

行程 （mm) 受检点（分度） 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 误差（μm) 0～1 正 0 0 0 +4 +6 +2 +2 0 0 +1 +1 反 +1 +2 +1 +5 +5 +4 +4 +1 0 +1 +1 1～2 正 +1 0 +1 +2 +3 +6 +5 +4 +2 +2 -1 反 +1 +1 +3 +4 +5 +6 +6 +3 +3 +1 +2 2～3 正 -1 +4 +2 +4 +8 +8 +10 +8 +8 +6 +6 反 +2 +4 +3 +4 +8 +9 +11 +8 +7 +7 +6 3～4 正 +6 +2 -1 -1 0 0 -1 0 -1 -1 -2 反 +6 +1 +1 0 +1 0 +2 0 +1 0 -2 4～5 正 -2 -3 -3 -3 -1 -1 -2 -2 -1 -2 -1 反 -2 -2 -2 -2 -1 -1 -2 0 0 0 0 工作行程示值误差：10－（－3）＝13μm 回程误差: 2－（－1）＝3μm任意0.1mm范围内示值误差：4－（－1）＝5μm任意1mm范围内示值误差：10－（－1）＝11μm 2－3mm范围内示值误差值最大  百分表示值误差、回程误差数据处理 指示表的正确使用及注意事项 1.校准前，指示表在室内平衡温度时间不少于2h，校准指示表的室内温 度为（20±5）℃，每小时变化不大于1 ℃. 2.在进行示值误差校准过程中，中途不得改变测杆的移动方向。也不应对受校表和检定仪作任何调整。 3.决定反行程误差的正负号和正行程相同。 4.测量杆不要加油，防止油污进入表内，影响表的转动。 百分表原始记录表 规程现行的2008版对比以前 1996版主要改动为： 　现行版不再分级别，以前分０级和１级； 　现行版增加了数字显示式内容； 　 　 注意事项： 使用安装时注意与被测物调整到适合角度（平行或垂直位置） 所需标准器: 千分尺专用量块 平行平晶 平面平晶 刀口形直尺 辅助设备:千分尺支架 万能测长仪 标准器图 术语 阿贝原则： 被测量线应在与测量线相重合或在其延长线上才能获得精确测量结果。 千分尺符合阿贝原则 不符合阿贝原则的量具是卡尺。 技术光波干涉法：满足一定条件的两列光波相遇时互相叠加，在相遇区域内产生明暗相间的条纹，这种现象叫干涉现象，这两束光被称为相干光，这些条纹称为干涉条纹或干涉带。 运用光干涉原理进行计量检定的方法叫技术光波干涉法。 校准项目 序号 受检项目 主要检定设备 后续检定 1 外观 －－－ + 2 各部件相互作用 －－－ + 3 测力 专用测力仪 + 4 测量面平面度 2级平晶、刀口尺 + 5 两测量面平行度 平行平晶、4等、5等量块 + 6 示值误差 4等、5等量块或专用量块 + 校准方法 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置： 当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm,离线不大于0.1mm. 测力： 用分度值不大于0.2N的专用测力计校准。 校准时，使测量面与测力计的球工作面接触后进行。 千分尺测力应为（5-10）N。 测量面平行度 测量上限至100mm千分尺两测量面平行度用4块厚度差为1/4测微螺距的平行平晶校准，也可用量块校准，数显千分尺用4等量块校准，外径、板厚千分尺用5等量块校准。 用平行平晶以技术光波干涉法判断干涉条纹数. 对于测量范围较大的千分尺用量块测量工作面4个位置的尺寸,最大尺寸与最小尺寸之差为平行度.测量上限大于100mm千分尺两测量面平行度用钢球检具校准。 两测量面平行度及允差 测量范围/mm 外径千分尺平行/μm 数显千分尺平行/μm 0～50 2 1.5 50～100 3 2.0 100～150 4 2.5 150～200 5 3 200～250 6 3.5 250～300 7 4 300～350 9 5 350～400 400～450 11 6 450～500 平行度偏差的计算方法 在检定过程中，光波干涉法测量两平面间的平行度，所使用的标准器是平行平晶，平行度偏差的计算方法是：两工作面出现的干 涉带条数（或圈数之和乘以0.3 ） . 校准前平面度注意的问题： 被检表面必须干净，无灰尘，不得有毛刺，否则不仅测量结果不准，还易划伤平晶。 测量平行度注意的问题 1.当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接 触，不得用力过猛，更不得转动微分筒接触，否则加力不一样，会影响测量结果。 2.千分尺把平行平晶夹持后调整平行平晶，一定要使得两测量面与平行