The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing 中文版本.doc

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2018-08-18 发布于辽宁
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目录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc203885252 第一章.认识半导体和测试设备 PAGEREF _Toc203885252 \h 2 HYPERLINK \l _Toc203885253 一、晶圆、晶片和封装 PAGEREF _Toc203885253 \h 2 HYPERLINK \l _Toc203885254 二、自动测试设备 PAGEREF _Toc203885254 \h 6 HYPERLINK \l _Toc203885255 三、半导体技术 PAGEREF _Toc203885255 \h 7 HYPERLINK \l _Toc203885256 四、数字和模拟电路 PAGEREF _Toc203885256 \h 7 HYPERLINK \l _Toc203885257 五、测试系统的种类 PAGEREF _Toc203885257 \h 8 HYPERLINK \l _Toc203885258 六、测试负载板(LoadBoard) PAGEREF _Toc203885258 \h 11 HYPERLINK \l _Toc203885259 七、探针卡（ProbeCard） PAGEREF _Toc203885259 \h 12 HYPERLINK \l _Toc203885260 第二章.半导体测试基础 PAGEREF _Toc203885260 \h 13 HYPERLINK \l _Toc203885261 一、基础术语 PAGEREF _Toc203885261 \h 13 HYPERLINK \l _Toc203885262 二、正确的测试方法 PAGEREF _Toc203885262 \h 14 HYPERLINK \l _Toc203885263 三、测试系统 PAGEREF _Toc203885263 \h 16 HYPERLINK \l _Toc203885264 四、PMU PAGEREF _Toc203885264 \h 18 HYPERLINK \l _Toc203885265 五、管脚电路 PAGEREF _Toc203885265 \h 21 HYPERLINK \l _Toc203885266 第三章.基于PMU的开短路测试 PAGEREF _Toc203885266 \h 25 HYPERLINK \l _Toc203885267 一、测试目的 PAGEREF _Toc203885267 \h 25 HYPERLINK \l _Toc203885268 二、测试方法 PAGEREF _Toc203885268 \h 25 HYPERLINK \l _Toc203885269 第四章.DC参数测试 PAGEREF _Toc203885269 \h 29 HYPERLINK \l _Toc203885270 一、基本术语 PAGEREF _Toc203885270 \h 29 HYPERLINK \l _Toc203885271 二、Binning PAGEREF _Toc203885271 \h 29 HYPERLINK \l _Toc203885272 三、Program Flow PAGEREF _Toc203885272 \h 30 HYPERLINK \l _Toc203885273 四、Test Summary PAGEREF _Toc203885273 \h 31 HYPERLINK \l _Toc203885274 五、DC测试与隐藏电阻 PAGEREF _Toc203885274 \h 32 HYPERLINK \l _Toc203885275 六、VOH/IOH PAGEREF _Toc203885275 \h 33 HYPERLINK \l _Toc203885276 七、VOL/IOL PAGEREF _Toc203885276 \h 36 HYPERLINK \l _Toc203885277 八、IDD Gross Current PAGEREF _Toc203885277 \h 39 HYPERLINK \l _Toc203885278 九、IDD Static Current PAGEREF _Toc203885278 \h 42 HYPERLINK \l _Toc203885279 十、?IDDQ PAGEREF _Toc203885279 \h 44 HYPERLINK \l _Toc203885280 十一、IDD Dynamic Current PAGEREF _Toc20388