电导率检定技术规程宣贯.ppt

Company Logo 近期学科发展方向及目标 扩展物化工程量基/标准覆盖范围、测量水平和服务能力。重点研发包括标准物质、国家标准及规程规范、校准技术等内容的量值传递/溯源技术；发展各种物化工程量在线测量仪器的校准和评价技术。 服务于新材料、能源、环境和医疗卫生等重点领域和重点行业，开展功能性材料的表面分析、粉体材料的特性量表征、聚合物材料关键量值定量测量、医用材料性能、煤炭、石油等能源产品重要物化工程参数、环境中可吸入颗粒物、污染水质监/检测新技术等方面的计量标准研究和仪器、方法评价技术，逐步建立满足需求的计量溯源体系。 Company Logo Thickness measurements for ultrathin silicon oxides layers on Si by XPS Developed thickness (1.5-8 nm) measurement for ultrathin silicon oxides layers on Si by XPS CCQM-K32 and APMP.QM-P08) are taken part in. CRMs for layers thickness is under studying Accurate surface analysis measurement of composition of alloy films Established XPS method to measure e composition of Fe-Ni alloy films Participated in CCQM-K67 and CCQM-P98 Other alloy films such as Zn coating on Fe are also being considered Company Logo Reference materials for sputtered depth profiling Validity assurance of analytical results based on EPMA, EDX or WDS Determination of the surface areal density of functional groups in organic thin films Company Logo Particle size CRM in sub micrometer- and nano-scale Three kinds of particle size CRMs have been developed, whose nominal particle size is 100nm, 300nm and 1000nm and the uncertainty reach to the same level as the other countries. Company Logo 近期承担的部分科研课题 序号 名称 1 洁净空气中颗粒计数计量校准装置的研究与建立 2 高纯物质中杂质分析与合金薄膜表面分析方法研究 3 有机化合物准确测量技术基础研究—纯度的差示扫描量热法定值和水分含量定值 4 石油产品开、闭口闪点仪检定校准用标准物质的研发 5 单晶硅原子量精密测量及晶格常数测量方案研究—阿伏加德罗常数测量关键技术研究 6 低霜点湿度检测标准装置技术改造 7 颗粒计数标准物质的研制 8 血细胞标准物质研制 Company Logo 序号 国际比对号 名称 1 CCQM-K32 Si上SiO2厚度测量表面分析关键比对 2 CCQM-K18 碳酸盐缓冲溶液pH测量关键比对 3 CCQM-K18.1 碳酸盐缓冲溶液pH测量后续关键比对 4 CCM.V-K2 毛细管粘度测量关键比对 5 CCQM-K36.1 电导率测量（0.5 S/cm、5 mS/cm）关键比对 6 CCT-K6 湿度标准关键比对 — 露/霜点温度-50℃至20℃ Company Logo 序号 国际比对号 名称 7 CCQM-P95 C层中N含量的测定 8 CCQM-P98 Fe-Ni合金薄膜组成测量表面分析比对 9 APMP.QM-P08 Si上SiO2厚度测量表面分析比对 10 ASTM D02.07.A-2005 粘度比对 11 ASTM D02.07.A-2006 粘度比对 12 ASTM D02.07.A-2007 粘度比对 近3年参加的国际比对-2 Company Logo 比表面、孔结构测量装置 为完善提高油品闪点标准购置的闪点仪 可吸入颗粒物发生装置 Comp