中药制剂分析kfxxcy1e.ppt

二、薄层上直接定量 薄层上直接定量的方法有目测法、测面积法、仪器测量法。，目前，用薄层扫描仪扫描测定斑点中化合物含量的方法已成为薄层定量的主要方法，此法也可用于纸色谱、电泳凝胶及其他介质的色谱。 (一)测定原理与方法 1．吸收测定法 (1)Kubelka-Munk原理及方程： 当强度为I0的单色光照射到厚度为X的薄层后，其情况如下图所示。 I0为入射光强度 i（x）为x处的透射光强。j（x）为x处的反射光强。X为固定相厚度。 Kubelka-Munk指出，当强度为I0的单色光照射到厚度为X的薄层后，光的反射和透射符合下述微分方程： -di/dX = -(S + K)i + Sj dj/dX = -(S + K)j + Si S：单位厚度薄层固定相的散射系数；K为薄层色谱斑点或单位厚度薄层固定相的吸收系数；X为由载板表面算起的薄层厚度。 i与j的一般解为： i = Asinh(bSx) + Bcosh(bSx) j = (aA - bB)sinh(bSx) + (aB - bA)cosh(bSx) A，B常数，a=（S+K）/S，b=（a2 - 1）1/2 ，Sinh=（ex - e-x）/2； Cos= （ex + e-x）/2，A/B=a/b。 为讨论方便，一般计算边界的i和j，即薄层下表面的透射光和上表面的反射光。 X=0时，j= 0，i =I0T X=X时，i =I0，j=I0R 则 T =b/[asinh（bSX） + bcosh（bSX）] R = sinh（bSX）/[asinh（bSX） + bcosh（bSX）] SX称作散射参数，它与薄层厚度、散射系数有关。Merck硅胶板的SX=3，青岛硅胶板SX＝3，日本和光硅胶F板SX=7。 SX数值大小直接影响薄层色谱斑点的吸光度-浓度曲线偏离Beer定律的程度。 薄层色谱斑点中物质的含量包含于a及b两个参数中， 已知a=（S+K）/S，b=（a2 - 1）1/2 ，乘以X，则 a= （SX+KX）/SX b= [KX（2SX+KX）]1/2/SX KX为吸收参数，相当于薄层色谱单位面积中物质的含量（ ?g/cm2），即KX=C。 薄层色谱斑点的吸光度： 理想的空白薄层板的K=0，但一般K?0。为消除影响，通常以空白板为基准，测定相对透光率及相对反射率来计算薄层色谱斑点的吸光度。 透射法 A= -lg（T/T0） 反射法 A= -lg（R/R0） -lgT/T0或-lgR/R0为仪器检测部分所获得的信号，它们和KX间的关系曲线相当于一般分光光度法中的A-C曲线，在溶液中，A-C曲线为一直线，而在薄层上，-lgT/T0或-lgR/R0和浓度间不呈线性关系，比较下图可以看出弯曲度随SX增加而增加。 不同SX时，吸光度与KX间关系曲线 a．透射法测定-lgT/T0与KX间关系 b．反射法测定-lgR/R0与KX间关系 目前对Kubelka-Munk曲线处理采用两类方法：曲线校直法和计算机回归法。岛津CS系列采用前者，CAMAG仪器采用后者。 1．校正前的标准曲线 2．校正后的标准曲线 曲线校直法是一种简便的薄层色谱扫描定量校准方法，但比较粗糙，且有时难于知道薄层板的SX的准确值。