GTS810F涂层测厚仪说明书.docVIP

GTS810F涂层测厚仪说明书 1概述 本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。 本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 特点： 采用了磁性测厚方法，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度； 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性； 具有电源欠压指示功能 操作过程有蜂鸣声提示； 设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式； 有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性； 微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流。 测量原理 本仪器采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。 磁性法(F型测头) 当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。 图1-1 磁性法基本工作原理 配置清单 名 称 数 量 主机 1台 标准片 5片 基体 1块 产品包装箱 1个 使用说明书 1本 技术参数 测量范围：0-1250um 工作电源：两节五号电池 测量精误差：零点校准 ±（1+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5 环境温度0-40℃ 相对湿度≤85% 最小基体10*10mm 最小曲率凸5mm;凹5mm 最薄基体：0.4mm 重量：99克（含电池） 尺寸102mm*66mm*24mm 电源 2×1.5V AA (5号) 2显示说明 μm/mil 测量单位 CAL 校准提示 Fe 表示磁性基体测量状态 NFe 表示非磁性基体测量状态 8.8.8.8 测量厚度显示区 ● 电源欠电压提示 使用说明 1）开机 按下ON键后仪器听到一声鸣响，。自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0.0μm，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。 2）关机 在无任何操作的情况下，大约5MIN后仪器自动关机。按一下“ON”键，立即关机。 3）单位制式转换（公制与英制转换） 在待测装态下，按μm/mil可转换其测量单位。 4）测量 a)准备好待测试件 b)是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行(参照3仪器校准) c)迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe；感应到是非磁性金属时仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！提起测头可进行下次测量； 仪器的校准 为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。 校准标准片（包括箔和基体） 已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。 校准箔 对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。 有覆盖层的标准片 采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法，覆盖层是非磁性的。对于涡流方法，覆盖层是非导电的。 基体 对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。 如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准： 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准； 用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。 校准方法 本仪器有三种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。 零点校准 在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。 按ZERO键，屏显0.0。校准已完成，可以开始测量了。 重复上述a、b步骤可获得