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c-3 数据已经过编辑(极差和均值相差太远的几个子组更改删除） d 如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组， 如 果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一 种或更多进行调查： d-1 控制限或描点计算错描错 。 d-2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不 同的过程流的测量值（这可能是由于对可调整的过程进行 过度 控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波 动的响应）。 注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。 * UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的过程（点离过程均值太近） 均值失控的过程（点离控制限太近） * 3-5 识别并标注所有特殊原因（均值图） a 对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过 程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态， 防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。 3-6 重新计算控制限（均值图） 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现 并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程 均值 X 和控制限，使所有点均处于受控状态。 * 3-7 为了继续进行控制延长控制限 a 当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控 制限，将其作为将来的一段时期的控制限。 b 当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率） 应调整中心限和控制限 。方法如下： b -1 估计过程的标准偏差（用σ? 表示），用现有的子组容 量计算： σ? = R/d2 式中R为子组极差的均值（在极差受控期间）， d2 为随样本 容量变化的常数，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 * b –2 按照新的子组容量查表得到系数d2 、D3、D4 和 A2，计算新 的极差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 将这些控制限画在控制图上。 * 4 过程能力分析 如果已经确定一个过程已处于统计控制状态，还存在过程是 否有能力满足顾客需求的问题时； 一般讲，控制状态稳定， 说明不存在特殊原因引起的变差，而能力反映普通原因引起 的变差，并且几乎总要对系统采取措施来提高能力，过程能 力通过标准偏差来评价。 * 带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内） 规范下限 LCL 规范上限 UCL 范围 LCL UCL 范围 不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出） LCL LCL UCL UCL 范围 范围 * 标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差---R越大,标准偏差---- σ? 越大） X σ? 范围 范围 X σ? σ? X 范围 R R R * 4-1 计算过程的标准偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数 注：只有过程的极差和均值两者都处于受控状态，则可用估计 的过程标准偏差来评价过程能力。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13