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第三章 单偏光镜下的晶体光学性质 一、单偏光镜的装置及特点 二、单偏光镜下观察的内容 (一) 矿物的形态、解理 (二) 矿物的颜色、多色性和吸收性 (三) 薄片中矿物的边缘、贝克线、糙面和突起 一、单偏光镜的装置及特点 单偏光镜的装置是指只使用下 偏光镜。 利用这装置可以研究矿物的外 表特征、矿物对光波吸收强弱的性 质、以及与矿物折射率相对大小有 光的光学性质。 单偏光镜的特点,可以分以下四 种情况: 1、自然光波,通过下偏光镜之 后,变成振动方向平行下偏光镜 振动方向pp的偏光(图3-2 A) 一、单偏光镜的装置及特点 2、如果载物台上放置均质体或非均 质体垂直光轴的矿片时,这类矿片 的光率体切面为圆切面,由下偏光 镜透出的振动方向平行pp的偏光, 进入矿片后,沿任一圆半径方向振 动通过矿片,不改变原来的振动方 向(图3-2B),此时N(矿片)=R(圆切面)。 一、单偏光镜的装置及特点 3、如果载物台上放置非均质体除垂 直光轴以外的其它方向切面时,其 光率体切面为椭圆切面。当矿片上 的光率体椭圆切面长短半径之一与 PP平行时,由下偏光镜透出的振动 方向进入矿片后,不改变原来振动 方向(图3-2C) ,此时N(矿片)=R(椭圆切面) 一、单偏光镜的装置及特点 4、当矿片上的光率体椭圆切面半径 与pp斜交时(图3-2D) ,由下偏光镜透 出的振动方向平行pp的偏光,进入 矿片后,发生双折射,分解形成两 种偏光,其振动方向分别平行矿片 上的光率体椭圆切面的长短半径的 方向,折射率值等于椭圆长短半径。 二、单偏光下观察的内容: (一) 矿物的外表特征,如形态、解理等。 (二) 与矿物对透射光波吸收有关的光学性质,如 颜色、多色性、吸收性等。 (三) 与矿物折射率有关的光学性质,如边缘、贝 克线、糙面、突起等。 §1.1 矿物的形态 图3-3 矿物的形态 §1.1 矿物的形态 §1.1 矿物的形态 §1.2 矿物的解理 1) 极完全解理 解理缝细、密、长,往往贯穿整个晶体, 如云母 矿物的解理。 2) 完全解理 解理缝较稀,不完全连贯,如角闪石类、辉石类矿 物的解理。 3) 不完全解理 解理缝断断续续,有时仅见解理痕迹,如橄榄石的 解理。 §1.3 解理夹角的测定 §1.3 解理夹角的测定 §1.3 解理夹角的测定 §2.1 矿物的颜色 §2.1 矿物的颜色 §2.1 矿物的颜色 矿物颜色的影响因数 矿物颜色的影响因数 §2.2 矿物的多色性及吸收性 §2.2 矿物的多色性及吸收性 §2.3 矿物的边缘 §2.4 矿物的贝克线 贝克线产生的原因 贝克线产生的原因 贝克线移动的基本规律 §3.3 矿物的糙面 §3.4 矿物的突起 萤石、树胶、石英、白云母 矿物的闪突起 §3.4 矿物的闪突起 4、当两种物质的接触界面直立时,垂直矿片的入射光 不发生双折射,但略微倾斜的光线发生折射和全反射,光线仍在折射率大的物质边缘集中。 可以看出,无论两种物质接触如何,光线通过两种物质的接触界面发生折射和全反射作用,总是使接触面的一边,光线相对减少,而形成较暗的边缘;其粗细和黑暗程度,取决于两种物质折射率差值大小,差值越大,边缘越粗越黑暗。 在接触面的另一边,光线相对增多,而形成比较明亮的贝克线。 1) 下降物台,贝克线向折射率大的方向移动 2) 上升物台,贝克线向折射率小的方向移动 图3-10 矿物的贝克线现象 n N n N 图3-10 矿物贝克线移动的基本规律 在单偏光下观察不同矿物的表面时,可看到某些矿物表面比较光滑,某些矿物表面显得较为粗糙呈麻点状,好象粗糙皮革,这种现象称为糙面。 图3-4 矿物的糙面现象 Zrn Q Pl K 矿物薄片表面常表现为显微状的凹凸不平,覆盖在矿片之上的加拿大树胶折射率又与矿片折射率不同。当光线通过二者之间的界面时,发生折射,甚至全反射作用,致使矿物表面的光线集散不一,而显得明暗程度不相同,给人以粗糙的感觉。 矿物的糙面原因 因此,糙面的明显程度取决于矿物折射率与树胶折射差值的大小及矿物表面的光滑程度。一般是二者折射率差值愈大,矿物表面的光滑程度愈差,其糙面愈明显。 矿物的糙面原因 薄片中有的矿物表面显得高,有的显得低,这种表面似乎高低不平的现象称为矿物的突起。突起的现象只是一种感觉,它是由于薄片中的矿物与树胶之间有不同的折射率差值引起的。差值愈大,突起的现象愈显著。 突起的高低取决于
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