基于光谱分析的强度调制器半波电压测量.pdf

第41卷 第12期 北 京 工 业 大 学 学 报 Vol.41 No.12 2015年 12月 JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OFTECHNOLOGY Dec. 2015 基于光谱分析的强度调制器半波电压测量 1 1,2 3 1,2 1 1 1,2 贾喻鹏 ,王大勇 ,钟摇 欣 ,王云新 ,李虹历 ,杨登才 ,戎摇 路 (1郾 北京工业大学 应用数理学院,北京摇 100124;2郾 北京市精密测控技术与仪器工程技术研究中心,北京摇 100124; 3郾 电子信息控制重点实验室,成都摇 610036) 摘摇 要:为了提高信息容量,调制器的调制信号已经发展到 Ka微波频段,频率往往大于 10 GHz,带宽达到几十 GHz. 这使得其半波电压会发生明显的变化,进而直接影响到调制器的调制效率以及光谱特性. 将光谱分析法推 广到强度调制器半波电压的测量中,理论分析了 MZM 调制器(Mach鄄Zehder modulator, MZM)在射频(radio frequency,RF)信号调制下的输出光光谱特性,利用调制边带强度比计算调制器在不同的调制频率和调制功率下的 半波电压. 实验结果表明:MZM调制器半波电压随着输入射频频率的增加而上升,且与输入调制功率的变化相比, 调制频率的变化对调制器半波电压的影响更大. 针对不同调制条件下对强度调制器的半波电压进行测量,可为优 化设计微波光子链路提供基础数据,对提高系统的传输性能具有重要实用意义. 关键词:强度调制器;半波电压;边带强度比;光谱分析法 中图分类号:U461;TP308 文献标志码:A 文章编号:0254-0037(2015)12-1867-05 doi:10.11936/ bjutxb2015060028 Measurement Method for the Half鄄wave Voltage of Intensity Modulator Based on Spectrometer Method 1 1,2 3 1,2 1 JIA Yu鄄peng ,WANG Da鄄yong ,ZHONG Xin ,WANG Yun鄄xin ,LI Hong鄄li , 1 1,2 YANG Deng鄄cai ,RONG Lu (1郾College of Applied Sciences,Beijing University of Technology,Beijing 100124,China; 2郾Beijing Engineering Research Center of Precision Measurement Control Technology and Instruments,Beijing 100124,China; 3郾Science and Technology on Electronic Information Conrol Laboratory,Chengdu610036,China) Abstract:To improve the information capacity,the modulation signal usually has the Ka鄄band (逸10 GHz)frequency anddozen