规范《GB6.463-1986-金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述》.pdfVIP

中华人 民共和国国家标准 UDC 嘴 ?)I}b1:Hsai 金属和其它无机粗盖层 .717.1 GB 6463一 86 厚度测量方法评述 Metallicandothernon-organiccoatings一 Review ofmethodsofmeasurementofthickness 本标准评述了金属或非金属基体上的金属和其它无机覆盖层厚度的测盆方法 测量方法分为无损法和破坏法两类。 本标准介绍了不同方法的工作原理，允许测量误差以及某些仪器测量方法的适用范围 标准中列出的方法，只包括国家标准中规定的一些试验方法 不包括某些特殊情况下便用的方法 本标准可以作为选择金属和其它无机覆盖层厚度测量方法的依据。 本标准等效采用国际标准ISO3882-1986 金属和其它无机覆盖层一厚度侧量方法评述》。 测盆方法 1.1 无损法 1.1.1 磁性法 本方法使用的仪器有两种类型:一种是测量一磁体与基体金属之间的磁引力，该磁引力由于搜盖 层的存在而受到影响;另一种是测量通过授盖层和基体金属磁通路的磁阻。 本方法的测量误差通常小于待侧厚度的10%或1.5[+m两个数值中较大的一个数 实际上.本方法只用于测RI磁性61体上非磁性覆盖层的厚度和磁性或非磁性基休上电镀镍层的厚 度 国家标准GB4956-85 磁《性金属基体上非磁性覆盖层厚度测盆 磁性方法》，说明了使用磁性 测厚仪，无损侧t磁性基体金属上非磁性 (包括釉瓷和搪瓷)覆盖层厚度的方法和要求〕 1.1.2 祸流法 本方法使用的仪器其工作原理是，仪器的测头装置产生了一个高频份场，使置于测头下的导体产 生涡流，涡流的振幅是测头和导休之间的非导电覆盖层厚度的函数。本方法主要用于测t非磁性金属 1.非导电覆盖层的厚度以及非导体上单层金属覆盖层的厚度 本方法的测量误差通常小于待测厚度的10%或1.5pm两个数值中较大的一个数。 国家标准GB4957-85 《非磁性金属垫体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法》，说明了使用涡 流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电搜盖层厚度的方法和要求。 1.1.3 X射线光谱测定法 本方法利用发射和吸收X射线光谱的装置确定金属覆盖层的厚度〕〔其仪器的工作原理是，使X射 线照射到一定面积的覆盖层表面时，覆盖层要发射二次射线，或者是由基休发射而被覆盖层减瑙了的 二次射线。该射线的强度可以被测量到。利用X射线的二次射线强度和覆盖层厚度之间存在的一定关 系，确定甩盖层的厚度 X射线法在一般情况下是适用的，但在下述情况下其精度偏低 a. 当夔体金属中存在祖盖层的成分或者覆盖层中存在基体金属成分时 b. 覆盖层多于两层时 c. 当覆盖层的化学成分与标定样品的成分有大的差异时。 国家标准局1986一0‘一11发布 1987一05一01实施 GB 64旧s一 日6 本方法的测量误差通常小于切% 1.1.4 日射线反向散射法 本方法使用的日射线仪，有一个 日射线发射源及一个检侧器，用来测夏被试样反向散射的0射线 的强度。被反向散射的0射线的强度是覆盖层反向散射强度和基体金属反向散射强度的中间值。只有 当覆盖层材料的原子序数和基体材料的原子序数明显不同时，才能用本方法测It。仪器用标定的样品 校准。样品应和待测试样具有相同的镀层和基体。根据试样反向散射的d射线强度的测R值，汁算R 盖层单位面积的质量。如果极盖层的密度是均匀的，则质量与厚度成正比 本方法既可用于测量薄搜盖层的厚度;也可用于测公厚攫盖层的厚度。可测最大厚度是覆盖层原 子序数的函数。 通常，本方法在较大的厚度范围内其#111误差都小干待测厚度的10% 1.1.5 光切显微镜法 本方法使用的仪器主要用于侧量表面