XianPolytechnicUniversity超声检测仪的作用.ppt

4.4 试块 CSK-ⅠA试块 按一定用途设计制作的具有简单几何形状人工反射 体或模拟缺陷的式样，统称为试块。 Xi an Polytechnic University 试块的分类 标准试块 对比试块 1.检测用试块分类 一.试块的分类 (1) 标准试块： 特点：由权威机构制定的试块，其特性与制作要求由专门的标准规定。 作用：标准试块用于仪器探头系统性能测试校准和检测校准，如ⅡW 试块。 JB/T4730.3-2005标准采用的标准试块有： 钢板用标准试块CBⅠ、CBⅡ； 锻件用标准试块CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ； 焊接中采用的标准试块有：CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、 CSK-ⅣA。 Xi an Polytechnic University (2) 对比试块： 特点：是以特定方法检测特定工件时采用的试块，含有意义明确的人 工反射体(如平底孔、短横孔、长横孔、槽等)。 其声学特性与被检测工件材料相似， 其外形尺寸应能代表被检测工件的特征， 试块厚度应与被检测工件的厚度相对应。 作用：主要用于检测仪校准以及评估缺陷的当量尺寸。 Xi an Polytechnic University (3) 模拟试块： 特点：是含模拟缺陷的试块，可以是模拟工件中实际缺陷而制作的样 件，或者是在以往检测中所发现含自然缺陷的样件。 作用：主要用于检测方法的研究、 无损检测人员资格考核和评定、 评价和验证仪器探头系统的检测能力和检测工艺等。 Xi an Polytechnic University ２.按人工反射体分类 Xi an Polytechnic University 1.标准试块的基本要求 二.标准试块 2.常用标准试块 Xi an Polytechnic University (1) ⅡW试块（荷兰试块或船形试块） Xi an Polytechnic University 1) 调整纵波探测范围和扫描速度(时基线比例)。 ⅡW试块的用途: 例：检测厚度为400mm的锻件，应如何调 节扫描速度？ Xi an Polytechnic University 2) 测定仪器的水平线性、垂直线性和动态范围，利用试块上25mm或100mm。 水平线性测量 Xi an Polytechnic University 垂直线性测量 d1---实测值与理想值得最大正偏差； d2---实测值与理想值得最大负偏差 100 100 0 80 80 -0.6 63 63 0.1 50 50 0.1 39 39 0.8 31 31 0.6 26 26 -0.9 20 20 -0.1 16 16 -0.2 13 13 -0.4 10 10 0 8 8 -0.1 6 6 0.3 Xi an Polytechnic University 动态范围测量： 动态范围的测量通常采用直探头，将试块上反射体的回波高度调节到垂直高度的100％，用衰减器将回波幅度由100％下降到刚能辨认的最小值时，该调节量即为仪器的动态范围。注意这时抑制旋钮为“0”。 JB/T 10061-1999标准中规定仪器的动态范围≥26 dB。 Xi an Polytechnic University （a）100% (b) 刚能辨认的最小值 实验结果： 超声检测仪动态范为 △=（52.5-24.5）dB=28 dB Xi an Polytechnic University 3) 测定直探头和仪器的分辨力。利用试块上85mm、91mm和100mm。 JB/T4730.3-2005标准中规定，直探头远场分辨力≥30%。 Xi an Polytechnic University 直探头远场分辨力测定实验图 从检测图中中可以看出，85mm、91 mm和100mm尺寸的回波能够清楚地分辨开来，测定结果符合JB/T4730标准规定。 (4) 测定直探头和仪器组合后的穿透能力。利用试块上φ50有机玻璃块底 面的多次反射波。 Xi an Polytechnic University 5) 测定直探头和仪器的盲区。利用试块上φ50圆弧面与侧面间距5和10mm。 Xi an Polytechnic University 盲区由始脉冲宽度和阻塞效应引起。 始脉冲宽度的测定方法：