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Page:1 of 27  田口方法 介紹  (Taguchi Methodology)  Lite-ON IT Corp. LITE ON G R O U P 海量免费下载资料，尽在 Page:1 of 27 LITE ON G R O U P 田口方法的由來: 1.它是一個學術用語(田口方法)是一位田口玄一博士所開發的,並于1981年 以後田口博士于美國幾個大企業輔導後,開始陸續出現此名詞,並風糜全球. 2.品質工程 田口方法是一種技術的觀點來討論及改善問題,而不是科學的研究及 統計的理念. 實驗計劃 品質工程 田口方法 田口方法的應用: 1.技術開發 2.產品設計 3.制程設計 4.生產管制 生產線外 品質工程 系統設計 參數設計 允差設計 量測器具的 校正系統 生產線上 品質工程 利用計量值的控制 制程的診斷與調節 回饋系統的設計與管制 預防保養 規格,安全與檢查設計 田口方法專業內容涵括: 損失函數與允差 直交表 參數設計 SN(倍噪比) 計數分類值的參數設計 技術開發與穩健性設計 我們將選擇一種對我們非常有幫助 的“直交表”法進行討論: 兩個名詞: 因子: Factor , 一件事物中之幾個要素 . 如:溫度,壓力,電壓. 水準: Level , 一個因子含有幾種不同的表征. 如, 電壓 : 15V , 16V , 14V . 多元配置: A 4部机器, B 3种彈簧, C 2种加工方法. 拉丁方格: A : 2*2 B : 3*3 2 3 1 1 2 3 3 1 2 1 2 3 2 3 1 3 1 2 2 1 3 3 2 1 1 3 2 2*2 拉丁方格實例: 一 CD-ROM 厂之客戶反應其產品在不同的溫度下進行功能測試 , CD-ROM的傳輸速率會不一樣. , 經該厂工程人員初步分析可能与 環境溫度及測試電壓有關. 案例: 某CD-ROM生產線F/T測試站發現最近傳輸速率達不到規格的不良品明顯增多,怀疑可能因素有DISC受溫度影響., PUH ,測試電壓, 用田口法分析如下. 1. 定義品質特性Y--傳輸速率愈大愈好. 2. 訂出影響Y因子與水準. A. 環境溫度 - 3水準 : A1=25℃ A2=40℃ A3=60℃ B. 測試電壓 - 3水準: B1=5V B2=4.75V B3=5.25V C. 不同PUH - 3水準: C1=Sanyo C2=Hitachi C3=Sony CD-ROM Drive Input power 4.75v,5v,5.25v SANYO PUH SONY PUH HITACHI PUH 25 Degree C, 40 Degree C, 60 Degree C 實驗因子搭配 3. 選直交表: 水準Ⅰ 水準Ⅱ 水準Ⅲ 回應表R Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ =總和 4. 分析試驗結果: A. Tx-Rate最大為第1個實驗. 各因子水準分別為: 25 Degree C, 5V, Sony PUH, 可知最佳搭配與最壞搭已一目了然. . B. 水準和的計算方法: Ⅰ= ? , Ⅱ= ? , Ⅲ = ? C. R代表不同級差: 級差大的因子意味著它選取不同水準對于TX-Rate影響較大, 一般而言它就是為重要因子,而級差小的因子可能是最不重要 的因子. R的計算方法 = 水準和最大值 - 水準和最小值 田口方法之作業步驟: 1. 選取品質特性,探討實驗要改善之Y.