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pcmintroduction工艺控制称监测器介绍.ppt

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pcmintroduction工艺控制称监测器介绍

PCM introduction 工艺控制监测器介绍 PCM --process control monitor(工艺控制监测器)一解是process control monitor , 一解是parameter control monitor。 PCM参数给定的是该工艺要实现的一些重要的参数,包括各方块电阻/电容/孔接触电阻/导线电阻/管子的开启电压等重要参数等。 不仅仅是电阻,所有用到的器件包括有源和无源器件的参数都要给出具体数值。 方块电阻,电容阻值,晶体管的基本参数都给出。在流片结束后测试专门放在划片槽中的PCM图形,作为“交货的质量凭证”。 PCM是Foundry监控工艺的,当器件的测量值都在指定的范围内,Foundry就会说我们的工艺没问题,如果产品性能差就是设计的问题了。 Contents 1 ??概述 2 PCM 硬件部分 3 PCM 测试原理和方法 4 PCM 异常处理 What’s PCM PCM就是Process Control Monitor的简称 同时,PCM也称为 WAT:Wafer Accept Test(芯片接收测试) ET: Electrical Test 1. 对产品进行参数质量检验; 2. 通过PCM测试,获取流水线上异常信息; 3. ?为流水线上的工艺实验提取参数信息; 4. 进行客户反馈产品失效原因分析; 5. 数据统计分析工作; PCM主要设备 1. HP4062 半导体参数测试仪 2. AG4070 series 3、S450 4、HP4155 半导体参数测试仪 HP4062 半导体参数测试仪 HP4062 硬件系统结构 GBIB总线方式的虚拟仪器 ??? GPIB技术是IEEE488标准的虚拟仪器早期的发展阶段。它的出现使电子测量独立的单台手工操作向大规模自动测试系统发展,典型的GPIB系统由一台PC机、一块GPIB接口卡和若干台BPIB形式的仪器通过GPIB电缆连接而成。在标准情况下,一块GPIB接口可带多达14台仪器,电缆长度可达40米。GPIB技术可用计算机实现对仪器的操作和控制,替代传统的人工操作方式,可以很多方便地把多台仪器组合起来,形成自动测量系统。GPIB测量系统的结构和命令简单,主要应用于台式仪器,适合于精确度要求高的,但不要求对计算机高速传输状况时应用。 HP4155 半导体参数测试仪 HP4155 半导体参数测试仪 HP4155 原理 HP4155参数测试分析仪由 HP4155,HP41501 构成一套测试系统. 半导体参数分析仪HP4155 半导体参数测试;电压测量范围:±200V,电流测量范围:±1A ? 半导体参数测试仪HP4145半导体参数测试;电压测量范围:?100V,电流测量范围:?100mA. 1.?HP4155由四组 SMU ,两组 VSU,两组 VMU 构成. SMU: SOURCE MONITOR UNIT. 有三种用途: Voltage source while monitoring current. Current source while monitoring voltage. Source common with no monitor. VSU: VOLTAGE SOURCE UNIT. VMU: VOLTAGE MONITOR UNIT. 2. HP41501 由两组PGU,一组 HPSMU (或两组 MPSMU ),一组 GNDU构成. PGU: PULSE GENERATOR UNIT HPSMU: HIGH POWER SMU MPSMU: MEDIUM POWER SMU GNDU: 接地单元. PCM 测试模块 主要参数介绍 (1)开启电压(NXSTRW2/PXSTRW2) (2)击穿电压(NXSTRW2/PXSTRW2) (3)导通电流(NXSTRW2/PXSTRW2) (4)单管漏电流(NXSTRW2/PXSTRW2) (5)方块电阻 (NPLUS/PPLUS/TUBS/PGT/PPC/M1LSVDP/M2LSVDP) (6)接触电阻(NPLUS/PPLUS/PGT/PPC/) (7)电容及电容击穿(CAPNP/CAPPC) RES1 (条电阻测试) PPLUS (P+RES,Rc) A brief process flo

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