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岛津光电发射光谱分析仪SHIMADZU Optical Emission Spectrometer 岛津真空型光电发射光谱分析仪PDA-7000 PDA-5500Ⅲ/Ⅳ/Ⅴ 岛津光电发射光谱分析仪的发展史 1935年　制造日本第一台分光摄谱仪 1953年　直读式分光分析仪（大气型分光器用于有色金属行业） 1960年　真空型发射光谱分析仪 　　　　　　（可以分析C, P, S, B等真空紫外波长范围的元素） 1974年　开发钢中铝的状态分析法（专利技术） 1978年　开发脉冲分布测光法(PDA方法) 1988年　基于光学系统的新技术用GDS成功实现超紫外领域 的测定(H:121nm、0:130nm、N:149nm) 1989年　实现铸铁中氮元素(N)的以质量控制为目的的分析 1995年　实现钢中氮元素的操作控制为目的的分析 1999年　与川崎合作共同开发钢中夹杂物测定的新技术 2002年　修改钢铁火花放电发射光谱分析法 岛津光电发射光谱仪在中国 1980年以前 VE-100 1980年 GVM-1000, GQM-1000, GVM-1000S 1985年 GVM-1014, GQM-1014 1991年 GVM-514, GQM-514 1993年 PDA-5017, GVM-1014S, GVM-514S 1995年 PDA-5500, PDA-5550, PDA-6000 1999年 PDA-5500II 2004年 PDA-7000, PDA-5500Ⅲ/IV/Ⅴ 岛津光电发射光谱分析仪的特点 最高的性能价格比 高性能/一般价位 最先进的分析仪器 具有六项专利技术 最优化的通道配置 最多配置64个通道，充分满足分析的需求 最稳定地分析仪器 具有良好的长期稳定性 最好的服务体系 遍布全国的维修中心，反应快速 最好的扩展性能 现场增加改装通道，适应用户产品的变更 发射光谱仪分析原理 发射光谱仪分析方法：对导电样品施加能量而激发元素的外层电子，电子跃迁产生元素固有的特征光谱，利用特征光谱进行定性、定量的分析方法。 光电发射光谱仪的构成 光 源 部 ： 用火花放电激发金属元素使之发光 分 光 部 ： 分离和选择元素固有的发射光谱的谱线 测 光 部 ： 对选定的谱线进行测光 数据处理部 ： 对测定的信号进行处理 光源系统 内置电源稳压器 选择最佳的放电条件 对电极自动清洗 专利的小体积火花架 光源系统 电极自动清洗 样品在激发时，样品上的蒸发物聚集在电极尖端上，影响下一次的分析； 岛津的专利技术在每一次激发后，自动清洗一次对电极，保证每一次激发的条件一致。 光源系统 设定最佳的放电条件 标准配备对应从微量到高含量分析范围的最佳放电条件 　 火花放电：约100ppm～几十％ 组合放电：约10～100ppm 　 电弧放电：约10ppm 三峰放电：约10ppm~几十% 光源系统 专利的小体积火花架 岛津专利的小体积氩气保护火花架，氩气耗量是其它产品的一半； 小体积氩气保护火花架，全保护电极设计，有效延长电极使用寿命； 空气冷却电极，不需要水冷，更加安全可靠。 分光系统 分光系统：将火花放电产生的复合光分为单色光 分光系统 主要特点 分光结构：帕邢-龙格型分光器 最先进的闪耀全息光栅(离子刻蚀全息光栅） 真空型分光器（高稳定性合金铸铁制造） 岛津公司专利设计的GDH-162型真空泵，根本上杜绝了油气污染 高精度温度控制器40±0.1℃，确保仪器的长期稳定性 最大可以达到 64 个通道（采用最先进的R6000系列光电倍增管） 可以方便快速现场添加通道 测光系统 脉冲分布测光法 时间分解测光法 　　 内标监控法 脉冲分布测光法(Pulse Distribution Analysis method) 全积分法（以往的方法）：依据放 电得到的谱线强度进行全积分 ＰＤＡ测光法：将每个放电脉冲的 谱线强度进行积分处理 可以将样品在激发时由于样品存在的气孔、裂纹等缺陷以及夹杂物产生的不正常的脉冲除去，减少因此而引起的分析误差。 提高了元素的分析精度，尤其提高了痕量元素的分析精度，同时降低了分析下限。 可以将固溶元素和非固溶元素的脉冲区分开来，从而进行某些元素的