《GBT2423.35-1986-电工电子产品基本环境试验规程试验ZAFc散热和非散热试验样品的低温振动(正弦)综合试验方法》.pdfVIP

中华人民共和国国家标准 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AFc:散热和非散热 UDC 621.8620. 试验样品的低温/振动(正弦) 综 合 试 验 方 法 GB 2428.85一8 Basicenvironmentaltestingprocedures forelectricandelec加nicproduc七 TestsZ/AFc:Combinedlowtemperature/vi bration (sinusoidal)testsfortroth heat一dissipatingandnon-heat- dissipatingspecimens 本标准等同采用国际电工委员会IEC68-2-50(1983第一版)《试验Z/AFc:散热和非散热试验 样品的低温/振动 (正弦)综合试验》。 1 引言 1.1概述 本标准适用于散热和非散热试验样品的低温/振动 (正弦)综合试验，基本上是试验Fc;振动(正 弦)和试验A:低温的综合。 本试验方法只限于试验样品在低温暴霉条件下达到温度稳定的情况时用。 1.2振动 本试验包括的振动试验基本上是等同于试验Fc:可以采用试验F。的一个或多个耐久试验程序， 但此综合试验中不包括耐久条件试验之后的振动响应检查。 1.3温度 试验散热试验样品的温度条件是使试验样品经受与自由空气条件相同方式的热应力。 由于在带振动器的试验箱中模拟自由空气条件困难所以本试脸通常使用强迫空气循环。试验样品 表面最热点作为温度的监测点。在进行试验之前，试验样品在规定的环境温度下经受自由空气条件以 确定温度监测点和监测温度。 1.4与本标准同时使用的标准 GB2421-81 《电工电子Iqt7基本环境试脸规程 总则》 GB2422-81 《电工电子产品基本环境试验规程 名词术语》 GB2423.1-81 《电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法》 GB2423.10-81 《电工电子产品基本环境试验规程 试验Fc.振动 (正弦)试脸方法》 G132424.1-81 《电工电子产品基木环境试验规程 高温低温试验导则》 G132424.22-86 《电工电子产品基木环境试验规程 温度 (低温、高温)/振动 (正弦)综合 试验导则》 G132423.22-81 《电工电子产Ip1基本环境试验规程 试验N.温度变化试验方法》 国家标准局1986-07一8、发布 1987一08一01实施 GB 2423.35一.I 2 目的 提供一个标准试验程序以确定散热、非散热元器件、设备或其他产品在低温与振动的综合条件下 使用，贮存和运输的适应性。 3 一般说明 本试验是试验A:低温和试验Fc:振动 (正弦)的综合试验。 注:试验Ab和Ad要求在条件试验的升温和降温过程中温度变化速率不超过1C/min(5min平均)，最大速率 1C/min不适用于能耐受热冲击的试验样品，即通常能经受试验Aa，并能耐受试验Na和Nc温度快速变化的 试脸样品。对于这些试验样品，可以使用能保持试验Aa(温度突变)所规定条件的试验箱。 试脸样品除非已进行过试验人和Fc(并记录其试验结果)，否则应首先在试验室温度条件下进行 振动试验，而后经受低温试验，直到达到温度稳定。之后，试验样品经受振动和低温的综合试外全。用 图1和图2表示试验曲线。 温度 试验室温度 试脸环境) 温度 振动 外观检查和夕乙今丫//之 性能检侧 一___ 试验样品的表面温度 一 试验箱环境温度 +t