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ICT測試原理及程式簡介 EPDVIII ICT Randy .xiang 一.ICT的功能 ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。 二. ICT的硬件結構 ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板，開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。 相匹配的治具簡介 Introduction of Agilent 3070  Agilent 3070 Family Anatomy of the Agilent Medalist i3070 Fixture ASRU Card 提供模拟激励信号 使用测量运算放大器进行反馈信号的测量 提供上电测试的电源通道 配在每个模块第1号插槽 Module Control Card 控制实际的测试过程 2个rcvc,测试频率 带有8个通用开关 (GP Relay) 配在每个模块的第 6 号插槽 ICT TEST程式与夾具命名規則 1.ICT程式命名規則 設備型號T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數 2.ICT夾具命名規則 設備型號T,A+P/N+夾具套數 MHS机种为例： P/N：69Y4784 EC:N31078R ICT程式命名: A90Y4784N31078R_01 ICT程式命名:A90Y4784_01 三. ICT的基本測試原理 1. 隔離量測原理 ICT其實是一台高級的萬用表，但它具有隔離(GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點。GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。在 ICT 內部電路中利用一顆 OP放大器 當做一個隔離點（最多可有五個隔離點），如果是: Part 3 Pins Test Pins测试概述 ICT测试的原理要求夹具的探针和电路板的测试点(testpad)要有良好的电气接触. Pins测试就是在测试正式开始前验证探针和测试点有无接触的工序. Pins测试只定性验证有无接触，pins pass是最低要求，并不能保证接触良好.(绕线出现错误；pins接触不好，阻抗大，但依然有current flow;隔离点无法 测) Pins Test Pins Test - Syntax Pins Test Called from testplan Pins测试的调试 Pins测试中的节点排列顺序不影响测试结果 Pins测试中没有其他测试选项 所以pins测试只有node的取舍 哪些节点pins不可测? 电容阻隔的点（capacitively isolated）－ IPG自动注释 只连到IC的NC脚的 － IPG自动注释 所连器件在板上都没有放(no pop)的 － 手动确认 Part 4 Shorts Test Opens Test Shorts Test overview Shorts Test Expected Shorts Shorts Test (Good Board)Testing For Shorts Shorts Test (Bad Board)Testing For Shorts Shorts Test (Bad Board)Testing For Shorts 假象短路的调试 假象短路出现的原因是特定的节点的测试顺序造成误判,必须在程序发布前排除 方法是将出错的节点（或者节点群）挪到被短路的节点(或节点群）后面。这个过程在调试中可能要重复几次,挪动时最好在同一个threshold设置群之内. 可以自己设置threshold，但是要遵循threshold值从大到小的顺序, Threshold最低尽量不要设到4以下，尤其是电源点。否则会有漏掉真正短路的可能. 不要轻易把节点放到测试文件的末尾，这样可能造成开短路 覆盖率的缺失，尤其是电源点或者VCC这类本身就是低阻抗的节点. 调试时settling delay可以加的比较大，在优化时再减小 Shorts Test - Report Options Part 5 Analog Test capacitors connectors diodes FETs fuses inductors jumpers resistors switches transi