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;;一.选择TRIAC的理由;二. TRIAC的参数详细讲解;三. TRIAC的失效模式与预防;过大的机械应力可造成可控硅失效,在受到撞击或挤压后, 可控硅内部晶圆会因外力作用而导致变形, 甚至导致晶圆和散热器之间脱落,导致散热不良而损坏。表现为半导通等。在过去做过失效分析数据中,大部分机械应力都来自制造过程中的打螺丝工艺,以下是ST公司推荐的螺批扭力:; 在设计过程中如果可控硅表面或内部结点温度过高, 也会导致失效,原因是温度过高后,
导致漏电流等参数急剧增加,使得可控硅控制极失去控制。表现为短路/开路或半导通;
以下是基本的热应力计算:;在电气设计中如果在可控硅两端施加了过高的电压和过大的电流或过高的di/dt,就有
可能会导致失效。;在电气设计中如果在可控硅两端施加了
过大的瞬间电流,会导致晶圆严重损毁。
见右图三。
表现为A1???A2之间
或者A1和G之间或者A2和G之间短路
或开路。见右图三;因过压而致, 应选耐压高的可控硅产品或在可控
硅A1和A2之间加压敏电阻。;四. 产品新项目的设计参数要求;五. 新项目的原理图设计;六. 新项目的TRIAC选型与分析;六. 新项目的TRIAC选型与分析;六. 新项目的TRIAC选型与分析;六. 新项目的TRIAC选型与分析;七.设计过程中的问题与分析;七.设计过程中的问题与分析;七.设计过程中的问题与分析;七.设计过程中的问题与分析;1). 客戶的測試要求: All Electrical Powered Products with Microprocessor Control ;±2 kV and ±4 kV per IEC61000-4-4
2). 測試方法: EN 61000-4-4: 2004+A1:2010
3). 客戶接受的判斷標準 (Acceptance Criteria) :
During testing at ±2 kV, there shall be no deviation from an appliance’s normal operation, no product damage, or unsafe or potentially unsafe conditions.
During testing at ±4 kV, a sample may exhibit abnormal operation or become inoperative but must not present an unsafe or a potentially unsafe condition to the user.;;;;
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