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SPC的起源 SPC的起源 基本的统计概念 基本的统计概念 基本的统计概念 基本的统计概念 基本的统计概念 基本的统计概念 基本的统计概念 管制界限之构成 管制图之管制界限是将分配图形90度转向,在平均值处作管制中心线(CL),在平均值处加三个标准差处作成管制上限(UCL),在平均值减三个标准差处作成管制下限(LCL)如图所示: 3.1 管制图之种类 3.1.1计量值管制图 所谓计量值管制图就是管制图所依据数据,均是由量具实际量测而得。如长度、重量、成份等特性均为连续性者。如: 1.平均值与全距管制图(X-R) 2.平均值与标准差管制图(X- σ) 3.中位值与全距管制图 4.个别值与移动全距管制图(X-MR) 3.1 管制图之种类 3.1.2计数值管制图 所谓计数值管制图就是管制图所依据数据均属于以单位计数者。如不良数、缺点数等间断数据均属于此类。如: 1.不良率管制图(P) 2.不良数管制图(pn) 3.缺点数管制图(C) 4.单位缺点数管制图(u) 3.2 管制图之绘制原则 3.3 管制图之绘制原则 3.3.1用于控制图分析的参数 在计量值管制图中,平均值与全距管制图系最实用的,所谓平均值与全距管制图,就是平均值管制图(X-Chart)和全距管制图(R-Chart)二者合并使用,平均值管制图就是管制平均值之变化,即分配之集中趋势之变化,全距管制图则管制变异之程度,即分配之散布状况。 4.1.1取样方法 管制图是由样本之数据,推测制造工程是否在稳定之管制状况中,因此选取之样本必须具有代表性,所以原则上在工作线上按不同之机器,不同之操作人员等分别取样,这样可避免机器、操作人员等因素之变异而发生非机遇原因.X-R管制图之样本,为了合理、经济及有效,大多取4或5.取样时最重要是合理样组,欲尽量使样组内之变异小,样组与样组间之变异大.管制图才易生效。要使样组内之变异小,必须使样本在相同条件下制造,一般情况下,包含100或更多单值读数的25或更多个子组可以很好地用来检验稳定性。 4.1.2取样方法 抽取一部机器或工序的变数通常都以“ 数量少和经常性 ” 为原则。在某一情况下,抽样数的决定有以下的决定因素。 a. 抽样频率 b. 经济因素 c. 统计学上的准确度 正常来说,平均值和全距控制图的抽样数大约在4和7之间。 因为5是一个较为方便处理的抽样数,所以,我们通常以5作 为一个标准。当然,如果有另外一个抽样数更适合,我们可以使用。 2. 取样时最重要是合理样组,欲尽量使样组内之变异小,样组与样组间之变异大.管制图才易生效。要使样组内之变异小,必须使样本在相同条件下制造,一般情况下,包含100或更多单值读数的25或更多个子组可以很好地用来检验稳定性。 4.5 不良率管制图(p-Chart) 不良率管制图可适用下列各种情况: A、仅能以不良品表示之品质特性; B、将产品依规格分为合格品与不合格; C、产品用“通”与“不通”量规或自动测试机分为良品或 不良品时; D、研究某制造工程有多少废品时; E、不良率管制图之样本大小可以一定或不一定。 4.5 不良率管制图(p-Chart) 不良率管制图之平均值(p)与标准差σp分别为: (1)以不良率表示时 (2)以不良个数表示时: 4.5 不良率管制图(p-Chart) P管制图与X-R管制图一样,需要合理分组。P管制图每组样本大小比X-R管制图大得多。如果P管制图之样本n太小时,可能抽不到不良品,因此管制图上P=0之点子太多,以误认为制品是100%为良品,则无法判断群体(制程与批)之情况。故需依平均不良率P来决定每组样本n之大小,并使每组样本内含有1-5个之不良品为佳,则 n=1/P-5/P 若P=4%,则样本大小n为: n=1/4%-5/4%=25-125。 4.5 不良率管制图(p-Chart) 计算不良率P 将数据填入记录内,并计算每组不良率P P=不良品个数/每组之检查个数=d/n 因为P管制图内之各组样本大小n常不相等,故其不良率之平均值P不能以各组不良率之总和除以组数K。需以各组不良品个数总和除以全部检查个数,即: 4.5 不良率管制图(p-Chart) 管制界限之计算 B、各组样
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