可测试性设计技术.pptVIP

;内容;冗余设计;可测性的能控性和能观性;可测性设计;电子产品的生命周期;当前的测试手段;电子产品的发展趋势;当前测试面临的困难;测试方法发展趋势;电子系统功能不正确的原因;缺陷种类;PCB典型故障;理想的测试;真实的测试;生产测试;多种测试手段结合;减少测试费用的方法;用户的可测性需求;内部的可测性需求;直通率与可测性;10X定律;可测性的效益;内容;过程概述;DFT规格需求;建立可测性基线;方案设计;可测性实现;可测性验证;可测性评估;可测性设计体系建设;可测性设计组织保证;内容;可测性设计指标定义;可测性设计指标定义;可测性设计指标定义;DFT实现方法和技术 JTAG 比较法 存储器测试 BIST …… DFT需求细化补充方法 D分析法 FMEA ……;可测性设计需求分析方法—问题提出;可测性的分析方法;经验分析法;D矩阵（Dependency Matrix）即相关性矩阵，反映故障集合与测试集合的相关性矩阵。;（建立D矩阵）;D矩阵分析方法;;;D矩阵分析方法;D矩阵分析方法;D矩阵分析方法;D矩阵分析方法;;器件失效模式库建库规则;失效库建库实例（MV64360） ;序号;9;D矩阵分析方法;内容;故障检测常用技术;取值范围（阈值）检测法 ;比较法;数据一致性检测;偶校验结果生成电路： ;遵循如下原则： 如果背板ID为偶数个，校验位采用奇校验，如果背板ID为奇数个，校验位采用偶校验。;时基检测法;故障检测常用技术5; ;JTAG：联合测试行动小组 Joint Test Action Group 边界扫描（Boundary Scan）系列标准;JTAG原理;支持研发、生产、现场及维修业务中的测试、维护与诊断： 链路自检 芯片互连测试 连接器测试 PLD编程 Flash编程 存储器测试 逻辑簇测试 。。。。。。。;单板JTAG的一条链设计？;系统JTAG;单板JTAG链设计流程;故障检测常用技术一览;内容;几种专项可测性实现技术介绍;;单板电子标签：单板的电子身份证，可在单板全生命周期追溯。;直流参数测试（DC Parameter Testing） 交流参数测试（AC Parameter Testing） 功能测试 （Functional Testing）;固定逻辑故障（Stuck-at fault） 固定开路故障（Stuck-open fault） 桥接短路故障（Short fault） ;1、 存储单元阵列中的故障 固定逻辑故障（Stuck-at fault） 固定???路故障（Stuck-open fault） 状态转换故障（Transition fault） 数据保持故障（Data-maintaining fault） 状态耦合故障（Coupling fault） 多重写入故障（multiple access fault） 2、地址译码电路中的故障： 没选中任一存储单元。 选中被选单元，并选中了其他单元。 3、读写逻辑中的故障 输入、输出导线中一位或多位固定逻辑故障。 缓冲器或锁存器中一位或多位固定开路故障。 缓冲器或锁存器中任意两位之间的状态耦合故障。;;频率;环回测试技术概述 环回测试是功能测试中最常见的一种测试手段，它的基本思想是在业务通道上构建一个环回路径，由数据源按一定要求构造业务数据，业务数据通过环回路径返回数据源方向，由数据接收端（与数据源同侧）接收业务数据并按照一定的协议进行验证，从而判断整个业务环回路径上各个业务处理单元功能是否正常。;Local环回主要用于内部数据源的发送和接收比较，进行故障定位和隔离。 Remote环回主要用于外部数据源的发送和接收比较，进行故障定位和隔离。 外部环回一般需要制作专用的电缆或飞线实现，通过内部数据源进行发送和比较，可以对于单板的整个E1链路进行故障定位和隔离。;内容;可测性系统设计——分层递归架构;;可测性技术总体构架;友商可测性实例－E公司的DFT架构;友商可测性实例－C公司;友商可测性实例－I公司;友商可测性实例－S公司;故障预警问题 ;内容; 培训总结——可测性体系;DFT建设;DFT建设;DFT建设;可测性未来趋势和挑战;问题讨论;