基本元件测试介绍.pdf

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3.155J/6.152J 课件 6: IC 测试 Prof. Martin A. Schmidt 麻省理工学院 9/24/2003 大纲 • 复习 • 要测试的结构 • 薄层电阻 • MOS 电容器 秋季课程 2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 2 我们的方法: • 多晶硅栅 (n-型) MOS 电容器 • n-型衬底 • 250nm n-型 多晶硅栅 • 50nm 栅氧化层 • 不同尺寸的电容器 • 多晶硅薄层电阻率 秋季课程2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 3 电阻 R = ñ L/A = (ñ/t) (L/W) 电阻率 方块电阻R 长宽比 Ω:-cm 秋季课程2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 4 薄层电阻率的概念 R = ñ L/A = (ñ/t) (L/W) 薄层电阻率(R ) #方块 S Ω:/sq L = W R = RS 秋季课程2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 5 方块数 R = 2R R = R / 2 R = R / 3 S S S R = 8RS R = 6 .5RS 秋季课程 2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 6 薄层电阻的测试 V I I R ’ = VDC / AB R ’’ = VDA/ CB 秋季课程2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide 7 范德堡法 R = (/ð ln2) ½ (R’+R’’) f(R’/R’’) S f(R’/R’’) 假定:厚度均匀连续的 0.2 秋季课程2003 M.A. Schmidt 3.155J/6.152J 课件 6 Slide

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