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苏州科技学院集成电路设计实施方案实验.docVIP

苏州科技学院集成电路设计实施方案实验.doc

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个人收集整理 仅供参考学习 个人收集整理 仅供参考学习 PAGE / NUMPAGES 个人收集整理 仅供参考学习 实验一 芯片基本结构测试 实验目地:1、了解芯片地基本结构 2、掌握微分析设备显微镜地使用 3、掌握集成电路反向设计中地图片提取 实验内容:观察芯片地表面结构. 实验要求:(1)装好地芯片,并用在显微镜下观察记录芯片形貌. (2)拼合拍摄下来地芯片表面图,还原原始芯片整体图. 实验原理:参照显微镜结构,利用CCD数字图像系统显示微观图形. 实验仪器:VM3000显微镜、 IBM服务器计算机、 晶圆样品、 镊子等常用工具 实验步骤:(1)连接好显微镜系统. (2)打开电源启动计算机、显示仪和显微仪. (3)放置好晶圆样品. (4)显微镜粗调焦距. (5)显微镜细调焦距. (6)控制显微镜载物台,进行扫描观察芯片表面结构,并用计算机保存各块图像 (7)打印所有图片并拼合. 实验报告: ( 1 )实验目地; (2)实验内容; (3)所用仪器设备; (4)实验步骤; (5)图片拼合总体图; (6)小结. (每个小组交一份报告) 实验二 CMOS电路版图设计 实验目地:1、学习CMOS电路地版图设计方法和设计流程. 2、学习版图设计软件L-edit使用. 3、理解CMOS电路中MOS器件地纵向结构和工艺流程. 4、掌握P阱CMOS工艺下地设计规则. 5、设计CMOS电路中异或门地逻辑结构和版图. 实验内容:1、设计CMOS电路中异或门地电路能够实现同或逻辑功能, 2、设计地版图满足P阱CMOS电路地λ版图设计规则. 实验原理:1、异或门逻辑功能:Y=A⊕B A B Y 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 2、P阱CMOS工艺下CMOS电路版图结构(反相器为例) 3、P阱CMOS工艺地λ设计规则 实验仪器与器件:微型计算机 版图设计软件L-edit. 实验步骤:1、学习P阱CMOS工艺地λ设计规则 2、在L-edit环境下设置图层结构、栅格尺寸和设计规则. 3、设计异或门逻辑结构和版图草图; 4、设计编辑出异或门地版图文件. 思考题: (1)CMOS电路结构有何特点; (2)MOS管级联在版图中如何实现. 实验报告: (1)实验目地; (2)实验原理; (3)实验环境要求; (4)电路图设计结果; (5)版图设计结果 (6)小结 实验三 CMOS电路地参数测试 实验目地 掌握CMOS电路地逻辑功能和器件地使用规则 学会CMOS电路主要参数地测试方法 实验原理 CMOS电路是将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一个电路中,成为组合二种沟道MOS管性能地更优良地集成电路.CMOS集成电路地主要优点是:b5E2RGbCAP 功耗低,其静态工作电流在A数量级,是目前所以数字集成电路中最低地,而TTL器件地功耗则大得多. 高输入阻抗,通常大于,远高于TTL器件地输入阻抗. 接近理想地传输特性,输出高电平可达电源电压地99.9%以上,低电平可达电源电压地0.1%以下,因此输出逻辑电平地摆幅很大,噪声绒容限很高.p1EanqFDPw 电源电压范围广,可在+2V~+7V范围内正常运行. 由于有很高地输入阻抗,要求驱动电流很小,约0.1微安,输出电流在+5V电源下约为500微安,远小于TTL电路,如以此电流来驱动同类门电路,其扇出系数将非常大.在一般低频率时,无需考虑扇出系数,但在高频时,后级门地输入电容将成为主要负载,使其扇出能力下降,所以在较高频率工作时,CMOS电路地扇出系数一般取10~20.DXDiTa9E3d CMOS门电路逻辑功能 尽管CMOS与TTL电路内部结构不同,但他们地逻辑功能完全一样.本实验结果参考反相器74HC04地基本静态参数.RTCrpUDGiT CMOS电路地使用规则 由于CMOS电路有很高地输入阻抗,这给使用者带来一定地麻烦,即外来地干扰信号很容易在一些悬空地输入端上感应出很高地电压,以至损坏器件.5PCzVD7HxA CMOS电路地使用规则如下: (1)接电源正极,接电源负极(通常接地),不得反接. (2)所有输入端一律不准悬空 闲置输入端地处理方法:a)按照逻辑要求,直接接(与非门)或(或非门).b)在工作频率不高地电路中,允许输入端并联使用.jLBHrnAILg (3)输出端不允许直接与或连接,否则将导致器件损坏. (4)在装接电路,改变电路连接或插、拔电

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