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半导体检测与测试技术
Semiconductor Inspection & Testing Technologies
DOI: 10. 3969 /j. issn. 1003 - 353x. 2012. 04. 014
基于神经网络 的 CMP 过程智能 R2 R 预测控 制
1 ,2 ,3 1
王亮 ,胡静涛
( 1. , 1100 16;
中国科学院 沈阳自动化所 工业信息学重点实验室 沈阳
2. , 100039; 3. , 110 142 )
中国科学院研究生院 北京 沈阳化工大学 沈阳
摘要: 针对化学机械研磨 ( CMP) 过程 非 线性 、时变和 不 易在线 测量的特性 ,提 出了基 于
径 向基 函数 ( RBF) 神 经 网络和微粒群 ( PSO) 算法的 CMP 过程 run-to-run ( R2R) 预测控制器
NNPR2R 。首先通过样本数据用减聚类算法和最 小二乘法构建 CMP 过程 的 RBF 神 经 网络预测模
型 ,解决 了复杂 CMP 过程难 以建立精 确数学模 型 的难题 和提高了预测模 型 的精度 。然后 通过
PSO 算法滚动优化求取控制律 ,解决 了基 于导数的优化技术 易于陷入局部最优的问题并提高了控
制精度 。仿真结果表明 ,CMP 过程 NNPR2R 控制器的性能优 于常规 的 EWMA 方法,有效抑制了
过程漂移和减小了不同批次 间产品的差异 ,显著降低了材料去除率 ( MRR) 的均方根误差 。
关键词: 化学机械研磨; 径 向基 函数神 经 网络; 预测控制; 批次控制; 微粒群滚动优化
中图分类号: TN305. 2 文献标识码: A 文章编号: 1003 - 353X ( 2012) 04 -0305 -07
Neural Network Based Intelligent R2R Predictive Control to CMP Process
Wang Liang1 ,2 ,3 ,Hu Jingtao1
( 1. Key Laboratory of Industrial Inf ormatics ,Shenyang Institute of Automation ,Chinese Academy of Sciences ,
Shenyang 110016 ,China; 2. Graduate School of the Chinese Academy of Sciences ,Beij ing 100039 ,China;
3. Shenyang University
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