课件：单偏光显微镜下晶体的性质.ppt

贝克线的移动规律：提升镜筒，贝克线向折射率大的介质方向移动。下降镜筒，贝克线向折射率小的介质方向移动。 贝克线的观察方法：为了看清贝克线，观察时要缩小光圈，降低视域亮度，使用中倍或高倍物镜。将界面移动到视域中心，移开聚光镜进行观察。 贝克线特点：灵敏度很高，用白光照明，两介质折射率差0.001即可见贝克线；用单色光照明时，灵敏度可提高到0.0005。 应用：贝克线的移动规律很容易判断两相邻介质的折射率的高低 假贝克线：当两种物质折射率相差很大并且接触面不平整时，出现与贝克线移动方向相反的一条亮线。这就是假贝克线。 2 .矿物糙面：单偏光镜下观察晶体表面，某些很光滑，某些粗糙呈麻点状，这种矿物表面光滑程度不同的现象称为糙面  糙面产生的原因：矿物表面的凹凸不平，覆盖在晶体上的树胶的折射率与晶体折射率有差异，当光线通过二者接触面时，发生折射甚至全反射，至使薄片中晶体表面光线集散不一，而形成明暗程度不同的斑点。 糙面产生的必要条件：（1）矿物本身表面不平； （2）矿物与树胶间存在折射率差。 糙面的明显程度取决于矿物折射率与加拿大树胶折射率的差矿片表面的磨光程度。一般来说, 两者的差值越大，矿片表面的磨光程度越差，其糙面就越明显。 第二节 单偏光镜下的晶体光学性质 3. 矿物突起 ⑴突起 突起是薄片中不同的晶体表面好象高低不一的现象称为突起。这是一种视觉的错觉，实际中薄片中的晶体切面是一样高的。 它是由于矿物折射率与加拿大树胶折射率不同，光波通过 两者之间界面而发生折射、全发射作用的结果。折射率大光线偏折度大，使人感觉晶体表面抬高 矿物突起的影响因素：矿物突起的高低与矿物折射 率值与加拿大树胶折射率值（1.54）的差值大小，差值愈 大，突起愈高。 ⑵ 正突起与负突起 正突起：矿物折射率值大于加拿大树胶折射率值； 负突起：矿物折射率值大于加拿大树胶折射率值。 正负突起判断：提升镜筒，贝克线由加拿大树胶向矿物移动为正突起；反之，则为负突起 。 ★ 矿物突起等级的划分 4 . 闪突起 ⑴ 概念 双折射率较大的光性非均质体，在单偏光下旋转载物台，矿物的突起发生明显改变的现象。称为闪突起如方解石等。 ⑵ 闪突起影响因素 平行光轴或光轴面切面 闪突起最明显 垂直光轴切面 没有闪突起 其它切面 介于上述两者之间 THANK YOU SUCCESS * * 可编辑 1 如果是均质体或非均质体垂直光轴矿片，光率体切面为圆切面，不发生双折射，折射率等于圆半径。 2 偏光方向与非均质体矿片的光率体椭圆长、短半径之一平行时，不改变原来的振动方向，折射率值等于该半径的长度。 3 偏光方向与非均质体矿片的光率体椭圆长、短半径之一斜交时，发生双折射，分解成振动方向平行光率体椭圆长、短半径的两条偏光。其折射率值分别等于椭圆长、短半径。 单偏光显微镜下可以观察的内容：晶体的形态、矿物颗粒的大小、百分含量、解理、突起、糙面、贝克线以及颜色和多色性 2.3平行光线下晶体的光学性质 2.3.1 单偏光镜下的晶体光学性质 单偏光的装置及特点 晶体的结晶习性 矿物的结晶习性 晶体的结晶习性:由晶体构造决定的性质。 作为鉴定特征的有：晶体的形状、解理和双晶。 矿物的形态 晶体形成条件、析晶顺序 矿物的形状、大小、晶体的完整度 矿物的结晶习性：指在相同的生长条件下，一定成分的同种矿物所具有的席间形态。常见的有： （1）一向延伸：晶体常数a≈b（或a＝b）《c，常发育为柱状、针状、纤维状等。 （2）二向延伸：晶体常数a≈b（或a＝b）》c，常发育为板状、片状、鳞片状。 （3）三向延伸：晶体常数a≈ （或＝） b≈ （或=）c，常发育为粒状。 1·晶形 薄片中所见为晶体的某一切面，同一晶体切面方向不同，反映出的平面形态完全不同。 如果薄片中晶体形态完整，且又较多数量的晶粒，则综合晶粒形态的观察，即可以得到晶体的形态。 2.集合体形状：同种晶体不同个体以一定图案生长在一起构成所谓的集合体形态。 柱状集合体 （石英） 依据集合体中单体的取向不同，结晶方式不同又可以分为：柱状集合体、片状集合体、粒状集合体、针状集合体、放射状集合体等。 片状集合体 （云母） 放射状状集合体 粒状集合体 纤维状集合体（石棉） 2.晶体的自形程度 根据薄片中晶体边棱的规则程度，可以将晶体划分为： a.自形晶：晶形完整，呈规则多边形，边棱为直线。 析晶早、结晶能力强、物理化学条件适宜。 b.半自形晶：晶形较完整，棱部分直线，部分为曲线 析晶较