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光电测量系统设计报告
一、干涉的基本原理
干涉现象是波动独有的特征,如果光真的是一种波,就必然会观察到光的干涉现象.1801年,英国物理学家托马斯·杨(1773—1829)在实验室里成功地观察到了光的干涉.两列或几列光波在空间相遇时相互叠加,在某些区域始终加强,在另一些区域则始终削弱,形成稳定的强弱分布的现象。
由一般光源获得一组相干光波的办法是,借助于一定的光学装置(干涉装置)将一个光源发出的光波(源波)分为若干个波。由于这些波来自同一源波,所以,当源波的初位相改变时,各成员波的初位相都随之作相同的改变,从而它们之间的位相差保持不变。同时,各成员波的偏振方向亦与源波一致,因而在考察点它们的偏振方向也大体相同。一般的干涉装置又可使各成员波的振幅不太悬殊。于是,当光源发出单一频率的光时,上述四个条件皆能满足,从而出现干涉现象。当光源发出许多频率成分时,每一单频成分(对应于一定的颜色)会产生相应的一组条纹,这些条纹交叠起来就呈现彩色条纹。
1、劈尖的等厚干涉测细丝直径?
见图7.2.1-2,两片叠在一起的玻璃片,在它们的一端夹一直径待测的细丝,于是两玻璃片之间形成一空气劈尖。当用单色光垂直照射时,如前所述,会产生干涉现象。因为程差相等的地方是平行于两玻璃片交线的直线,所以等厚干涉条纹是一组明暗相间、平行于交线的直线。
设入射光波为λ,则第m级暗纹处空气劈尖的厚度
由上式可知,m=0时,d=0,即在两玻璃片交线处,为零级暗条纹。如果在细丝处呈现m=N级条纹,则待测细丝直径
具体测量时,常用劈尖盒,盒内装有两片叠在一起玻璃片,在它们的一端夹一细丝,于是两玻璃片之间形成一空气劈尖,见图7.2.1-2。使用时木盒切勿倒置或将玻璃片倒出,以免细丝位置变动,给测量带来误差。
2、利用干涉条纹检验光学表面面形?
检查光学平面的方法通常是将光学样板(平面平晶)放在被测平面之上,在样板的标准平面与待测平面之间形成一个空气薄膜。当单色光垂直照射时,通过观测空气膜上的等厚干涉条纹即可判断被测光学表面的面形。
?(1)?待测表面是平面
两表面一端夹一极薄垫片,形成一楔形空气膜,如果干涉条纹是等距离的平行直条纹,则被测平面是精确的平面,见图7.2.1-3(a),如果干涉条纹如图7.2.1-3(b)所示,则表明待测表面中心沿AB方向有一柱面形凹痕。因为凹痕处的空气膜的厚度较其两侧平面部分厚,所以干涉条纹在凹痕处弯向膜层较薄的A端。?
(2)?待测表面呈微凸球面或微凹球面?
将平面平晶放在待测表面上,可看到同心圆环状的干涉条纹,参看图7.2.1-4。用手指在平晶上表面中心部位轻轻一按,如果干涉圆环向中心收缩,表明面形是凹面;如果干涉圆环从中心向边缘扩散,则面形是凸面。这种现象可解释为:?
当手指向下按时,空气膜变薄,各级干涉条纹要发生移动,以满足式(2),
3、用牛顿环测平凸透镜的曲率半径 当曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一平面玻璃上时,见图7.2.1-1,在透镜的凸面与平面之间形成一个从中心O向四周逐渐增厚的空气层。当单色光垂直照射下来时,从空气层上下两个表面反射的光束1和光束2在上表面相遇时产生干涉。因为光程差相等的地方是以O点为中心的同心圆,因此等厚干涉条纹也是一组以O点为中心的明暗相间的同心圆,称为牛顿环。由于从下表面反射的光多走了二倍空气层厚度的距离,以及从下表面反射时,是从光疏介质到光密介质而存在半波损失,故1、2两束光的光程差为:
式中λ为入射光的波长,δ是空气层厚度,空气折射率n ≈ 1?。
当程差Δ为半波长的奇数倍时为暗环,若第m个暗环处的空气层厚度为m?,则有:
由图7.2.1-1中的几何关系,以及一般空气层厚度远小于所使用的平凸透镜的曲率半径R,即,可得:
式中是第m个暗环的半径。由式(2)和式(3)可得:
可见,我们若测得第m个暗环的半径便可由已知λ求R,或者由已知R求λ了。但是,由于玻璃接触处受压,引起局部的弹性形变,使透镜凸面与平面玻璃不可能很理想的只以一个点相接触,所以圆心位置很难确定,环的半径也就不易测准。同时因玻璃表面的不洁净所引入的附加程差,使实验中看到的干涉级数并不代表真正的干涉级数m。为此,我们将式(4)作一变换,将式中半径换成直径,则有:
对第m+n个暗环有
将(5)和(6)两式相减,再展开整理后有
可见,如果我们测得第m个暗环及第(m+n)个暗环的直径、,就可由式(7)计算透镜的曲率半径R。?
经过上述的公式变换,避开了难测的量和m,从而提高了测量的精度,这是物理实验中常采用的方法。
二、干涉法测微小量的原理与干涉仪绘制草图
1、实验内容
用干涉法测微小形变实验验证
实验仪器:he-ne激光器、共焦球面干涉仪、压电陶瓷
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