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X射线和γ射线一样,均显电磁波.从产生机构上来说,γ射线是从原子核内部放出的射线,而X射线则是由原子核外产生的.X射线强度的大小可以靠改变加在X射线管上的高电压来选择.所以,X射线和γ射线一样,可以测量厚度较厚的带钢,而且X射线的防护问题比γ射线简单得多. 穿透式测厚仪表的放射源和检测器分别置于被测带材的上下方,如图.当射线穿过被测材料时,一部分射线被材料吸收;另一部分则穿过被测材料进入检测器,为检测器接收. 检 测 器 测 量 线 路 指 示 仪 表 放射源 对于窄束入射线,在其穿透被测材料以后,射线强度的衰减规律,如下式: I=I0*e-μx 所以,如果测出I就可以知道质量厚度x值. 测量数据的后期处理 仪表计算出钢板厚度后,还要进行温度补偿和合金补偿计算。通过上位机传送的带钢的化学成分及其含量,仪表计算机计算出补偿系数(AI)。测量数据通过计算机处理后所得数值乘以AI,就是经过合金补偿的厚度值。 测厚仪测量厚度是在终轧温度800-900℃时测量的,仪表输出的是冷态(20℃)下带钢的厚度值,带钢有热胀冷缩特性,所以就要进行温度补偿。测厚仪本身有一测温仪,专用于温度补偿。仪表中存有14条温度补偿曲线,根据上位机选择的温度补偿曲线号,仪表计算机在表中查得测量温度的温度补偿系数。经过合金补偿的厚度值乘以温度补偿系数就是输出的厚度值。 磁栅位移传感器结构 在非磁体的平整表面镀一层0.02mm的Ni-co-p磁性薄膜,并用录音磁头沿长度方向,按一定的激光波长,录上磁性刻度线----磁尺 在磁尺录上相等节距的磁化信息而形成磁栅,相当于一个个小磁铁,按NS、SN、NS----排列,在磁尺上磁场强度呈周期性变化。 磁栅位移传感器的结构:磁尺、磁头、检测电路。 磁头:动态磁头、静态磁头。 动态磁头只有一个输出绕组,静态磁头有两个绕组。一个是激励绕组,另一输出绕组。 检测电路:供给磁头激励电压;把检测到的信号转换为脉冲信号输出。 磁栅位移传感器工作原理 NS NS SN SN NS 检 测 电 路 UOUT 当磁尺与磁头产生相对运动,磁头的铁芯使磁尺的磁通有效地通过输出绕组,在绕组中产生感应电压,该电压随磁尺磁场强度周期的变化而变化,从而将位移量转换成电信号输出,磁头输出信号经检测电路转换成电脉冲信号,并以数字形式显示。 允许最高工作速度为12m/min,系统的精度可达0。01mm/m,最小指示值0。001mm。 主要用于大型机床和精密机床作为位置或位移的检测元件。 结构简单,使用方便,动态范围大(1~20m),磁信号可以重新录制,需要屏蔽和防尘 磁电式转速传感器 由电永久磁铁、感应线圈、磁盘组成 转轴 磁盘与转轴一起旋转,磁盘的凹凸齿形将引起磁盘与永久磁铁间气隙大小变化,使永久磁铁组成的磁路中磁通量随之变化,磁路通过感应线圈,当磁通量发生突变,感应线圈会感应出一定幅度的脉冲电势,其频率为:f= z n (z为磁轮的齿数 n为磁轮转数) 测定脉冲频率,可得知被测物体的转数. 如果磁电式转速传感器接上数字电路,组成数字式转速测量仪,直接读出被测物体的转速. 测量转速下限50r/s、上限数十万r/s 霍尔式传感器 霍尔效应:把一块载流子导体置于磁场中,当载流子导体中有电流通过时,在垂直于电流方向上产生电动势。 I B 霍尔电势UH=RHBI/h RH:霍尔系数 h: 霍尔片厚度 霍尔元件结构:由霍尔片、引线和壳体三部分组成 1 3 4 2 1、3 激励电流或激励电压引线 2、4 霍尔电势输出引线—霍尔电极 霍尔传感器组成:霍尔元件、激励电源、产生磁场的装置和输出测量电路构成。 霍尔元件基本电路: I U0 RL 1 3 2 4 B或I或B、I的乘积作为输入信号, U0正比于B或I或BI。 霍尔转速测量装置: N S 霍尔开关 待测物体 ω 待测物体上粘贴一对或多对小磁钢,霍尔开关固定在小磁钢附近,待测物体以角速度ω旋转时,当小磁钢转过霍尔开关集成电路时,霍尔开关产生一个相应的脉冲,检测出单位时间的脉冲数,即确定待测物的转数。 设频率计频率为f,磁钢数为Z,转数n=60f/Z 接近传感器 是一种具有感知物体接近能力的器件,利用位移传感器对所接近的物体具有的敏感特性来识别物体的接近,并输出相应开关信号,也叫接近开关。 (1)电容式接近传感器 以电极为检测端的静电电容式接近开关, 振荡电路 检波电路 放大电路 整形电路 输出电路 U 电容式接近传感器原理 平时检测电极与大地之间存在一定的电容量,成为振荡电路一个组成部分,当被检测物体接近检测电极时,由于检测电极加有电压,检测物体受到静电感应产生极化现象,被测物体越靠近检测电极,检测电极的电荷就越多,检测电极的静电电容为C=
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