第四讲新企标与相关标准的区别秋.ppt

新企标、IEC60815的主要变化-污区划分 IEC815只是定性的确认污秽程度，分四级。 IEC 60815在引入ESDD和NSDD表征污秽度后，参照绝缘子表面的ESDD和NSDD将污区划分为了a、b、c、d和e五级 污区不再由ESDD单一确定，变成了NSDD和ESDD共同确定 引入SPS概念 新企标、IEC60815的主要变化-SPS测量用不带电的参考绝缘子 需要带电不带电修正 不带电绝缘子污秽还缺少了电场力对污秽的影响，尤其是绝缘子下表面，尤其是钟罩型下表面。电场力不仅影响直接的积污，还影响放电，而放电又影响到积污（主要是下表面）。因此，不带电绝缘子上下表面积污比例与实际绝缘子会有些差别， 需要进行绝缘子形状修正 采用参考绝缘子测量污秽还缺少了绝缘子形状对污秽的影响，需要进行绝缘子形状修正。尤其在我国常用双伞型绝缘子，用参考绝缘子污秽划分污区后，是进行双伞绝缘子修正，还是用双伞绝缘子划分污区都需要认真考虑。另外，对复合绝缘子又该如何修正，也需要认真考虑。 新企标、IEC60815的主要变化-SPS由多年污秽确定 有利于绝缘配置一次到位 IEC 60815明确由参考绝缘子的多年污秽来确定污秽度，更符合实际情况，对于我国目前推行多年污秽度有利 一般来讲，多年污秽总比一年污秽要重，因此在数值上某地区的污秽度会比以前大。按照新标准在引入灰密，同一地区污秽分级可能更高。多年污秽度引入有助于绝缘配置一次到位 用饱和等值盐密替代年度等值盐密 灰密的取值 污秽物理化分析 新企标、IEC60815的主要变化-污秽细分、环境描述更具有操作性 污秽类型的识别 类型A、B 现场污秽度的描述 现场污秽度（SPS）是按本技术规范上给出的方法测得的在相当长的时间内，以一定测量时间间隔记录到的ESDD和NSDD或SES或DDGIS和DDGIN的最大值。 环境描述为5种类型 “沙漠”型环境 “沿海”型环境 “工业”型环境 “农业”型环境 “内陆”型环境 新企标、IEC60815的主要变化-污秽细分、环境描述更具有操作性 现场污秽度评估 污秽度的评定如下，其置信度递减： 来自现场的测量； 来自在现场或接近该现场已经运行的线路或变电所绝缘子性能的信息； 来自根据气候和其它环境参数模拟算得的污秽水平 如果没有其它可能性，可以从表1给出的指示定性地确定 现场测量方法 对类型A污秽现场，为参考绝缘子表面上的ESDD和NSDD 对类型B污秽现场，来自参考绝缘子或一监视器的现场泄漏电流或电导测量的SES 对类型A或B污秽现场，由DDDG法（见附录E）收集到的污秽物的DDGIS，DDGIN。 不同长度绝缘子的闪络总次数； 样品绝缘子的泄漏电流。 新企标、IEC60815的主要变化-污秽细分、环境描述更具有操作性 新企标、IEC60815的主要变化-关于模拟计算 收集的资料包括站址半径40km范围内污源的所有烟囱高度、SO2排放量、烟尘排放量、燃煤量、烟囱口径等（排放量为小时值或年排放量值）。规划中的点源（环评报告书中的排放部分及日期）、城市SO2面源排放量（燃煤、燃气、燃油）能源消耗量、增长预测。资料收集的全面与否将会直接影响到模式计算结果的好坏，但将所有工业源的所有排放都考虑入模式中是不现实的，也是不必要的。一是许多小排放源的数据难于获取，二是其排放量也不大，占总排放量比率很小，影响距离仅数百米，可忽略不计（距离站址很近的小污源除外）。本次计算按以上原则通过仔细筛选、反复核对。 新企标、IEC60815的主要变化-关于模拟计算 新企标、IEC60815的主要变化-关于模拟计算 XP-70绝缘子下表面的沉积量计算公式为： 新企标、IEC60815的主要变化-提出USCD的概念 以前由爬距除以线电压计算爬电比距，现在改为由爬电距离除以绝缘子两端的电压。交流、直流绝缘子以及相间间隔棒等绝缘子采用同样的爬距计算方法。 统一爬电比距反映了沿面电压梯度。由于交流多用线电压描述，对于大量的交流设备来说并不直观，需要时间适应。 新企标、IEC60815的主要变化-污区划分的变化 引入ESDD与NSDD后的污区划分 IEC60815中最为重要的变化是在引入ESDD和NSDD表征污秽度后，参照绝缘子表面的ESDD和NSDD将污区划分为了a、b、c、d和e五级。 ESDD与NSDD对污闪电压的影响 实际上，绝缘子串的污耐受电压可以写成： 其中k为常数。对于某一给定的污耐受电压U0，可得到NSDD与SDD之间的关系为： 其中 。就是说log(NSDD)和log(SDD)之间是一条斜率为-n/m的直线。根据相关研究成果，直线斜率在应在-2.0 新企标、IEC60815的主要变化-污区划分的变化－双伞绝缘子 新企标、IEC60815的主要变化-定义和术语 新企标、IEC