GB/T 17444-2013红外焦平面阵列参数测试方法.pdf

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  •   |  2013-11-12 颁布
  •   |  2014-04-15 实施

GB/T 17444-2013红外焦平面阵列参数测试方法.pdf

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ICS 31.260 _一 52 中华人民共和国国彖标准 GB/T 17444—2013 代替 GB/T 17444— 1998 红外焦平面阵列参数测试方法 Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays 2013-11-12 发布 2014-04-15 实 GB/T 17444—2013 目 次 刖有 I 1范围1 2 术语和定义1 3 符号和单位4 4 测试方法 5 4. 1 方法3001:响应率和响应率不均匀性 5 4. 2 方法3002:噪声电压 8 4. 3 方法3003:探测率 9 4. 4 方法3004:噪声等效温差 9 4. 5 方法3005:有效像元率10 4.5 方法3006:固定图形噪声 11 4.7 方法3007:噪声等效功率 11 4.8 方法3008:饱和辐照功率 12 4. 9 方法3009:动态范围 12 4. 10 方法3010:相对光谱响应 13 4.11 方法3011:读出速率、帧频 14 4. 12 方法3012:串音15 附录A (规范性附录 )响应率的其他表示 17 附录B (规范性附录 )空间噪声 18 附录C (资料性附录 )备用特性参数及相关量 19 附录D (资料性附录 )调制传递函数测试方法20 附录E (资料性附录 )非线性度测试方法 22 附录F (规范性附录 )一种推荐算法 23 GB/T 17444—2013 ■ i r ■ ■ i 刖 吕 本标准按照GB 1. 1-2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T 17444— 1998 《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》 ,与GB/T 17444— 1998 相比主要变化如下: ——标准名称修改为 《红外焦平面阵列参数测试方法》。 —增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、 饱和信号电压、像元噪声等效温差。 ——增加一些参数测试方法 ,如:固定图形噪声、读出速率、帧频’ ——增加了附录D 《调制传递函数测试方法》 、附录E 《非线性度测试方法》。 -修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、 死像元、过热像元、噪声等效功率。 -修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光 谱响应、串音。 本标准由中华人民共和国丁业和信息化部提出。 本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。 本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。 本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。 本部所代替标准的历次版本发布情况为: ——GB/T 17444— 19980 T GB/T 17444—2013 红外焦平面阵列参数测试方法 1范围 本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关

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