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- 2019-06-16 发布于四川
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- | 2018-03-15 颁布
- | 2018-08-01 实施
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ICS 31.200
L 56 £3©
中华人民共和国国家标准
GB/T 14028—2018
代替 GB/T 14028— 1992
半导体集成电路
模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits —
Measuring method of analogue switch
2018-03-15 发布 2018-08-01 实
发布
GB/T 14028—2018
目 次
冃U有 I
1范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义 1
4 总则2
4.1 测试环境要求 2
4.2测试注意事项 3
4.3 电参数符号3
5 参数测试4
5.1模拟电压工作范围(Va) 4
5.2 导通电阻(Rm) 5
5.3导通电阻路差(ARon) 6
5.4 截止态漏极漏电流 [/ “刖 ] 6
5.5截止态源极漏电流 :/s(of0] 7
5.6导通态漏电流DS(on) 8
5.7 开启时间(/m) 9
5.8关断时间(gff) 11
5.9通道转换时间(仆) 12
5.10最高控制频率(/cm) 13
5.11截止态隔离度(Koirr) 14
5.12截止态馈通频率(/f) 15
5.13 导通态串扰衰减[―他 ] 16
5.14 输入串扰衰减] 17
5.15控制信号串扰(Uca) 18
5.16导通电阻路差率(RoN-M^ch) 18
5.17导通电阻温度漂移率(RoN_orift) 19
5.18通道转换无效输出时间(仏呻)19
5.19 电荷注入量(Qinj) 21
GB/T 14028—2018
■ r ■ ——
刖 弓
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 14028—1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》 ,与GB/T 14028-
1992相比主要技术变化如下:
—增加了导通电阻路差率、导通电阻温度漂移率、通道转换无效输出时间、电荷注入量4项测试
方法(见 5.16 、5.17、5.18 、5.19);
——修改了第4章中对测试规定的说明;
——修改了全文图、表的表述形式;
——修改了 “通道转换时间”测试方法中转换对象 “亍+ 1”为j“ ”;
——增加了对 “截止态漏极漏电流”测试方法中未定义的多路模拟开关测试说明;
——修改了 “通道转换时间测试方法”测试方法中存在图文歧义的10%含义。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会 (SAC/TC 78)归口。
本标准起草单位:中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子 (北京)股份有限
公司、西北T业大学。
本标准主要起草人:张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东。
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