仪器一激光粒度分析仪.doc

仪器一：激光粒度分析仪 1.型号：Mastersizer 3000 2.生产厂家：英国马尔文 3.存放地点：古地磁实验室 4.联系人：林秀斌 5.主要技术参数： （1）粒度测试范围：0.01-3500微米。 （2）光源：高稳定氦-氖激光器，波长为633纳米；独立固体蓝光光源，波长470纳米。 （3）全量程采用激光衍射法，仪器无须校准。 （4）全量程采用单一透镜实现0.01-3500微米的测量。 （5）具有一般物质光学指数及测试结果数据库。 （6）光路采用反傅立叶透镜的光学设计。 （7）测量速度:数据采集速率为10000次/秒；用户可自由设置测量时间。 （8）重复性误差≤±0.5%， 准确性误差≤±1%。 （9）检测器：非均匀交叉面积补偿扇形排列，辅以前向、侧向、大角度和背向三维立体检测器，物理检测角度0.015?～144?。 （10）光学测量系统（主机）与样品分散系统完全独立。 （11）分散器：配置湿法分散系统，包括湿法分散器和湿法插拔式样品池。 （12）样品池需易于切换和自动识别，样品池自动锁定，便于不同分散系统的切换及保养。（13）玻璃检测窗在样品槽中，并采用插拔式设计，以便分散器快速切换和玻璃检测窗清洗。（14）湿法分散器容量600毫升，包括插入式样品循环器,内置循环泵和机械搅拌；泵速，搅拌速度连续可调。 （15）湿法分散器带内置在线超声分散功能，超声强度连续可调。 （16）能提供同时包括中、英文版本的应用软件的光盘及中、英操作说明书。 （17）软件需具备SOP，用户报告设计，结果评估和量程扩展功能。对于范围超出仪器量程的样品，可将由其他方法（如筛分等）测得的数据结果输入软件，重新计算，然后给出全范围的粒度分布结果。 6.适用范围：适用于沉积物颗粒粒度分析，大气颗粒物粒度分析，水体中固体颗粒物粒度分析等。 仪器二：裂变径迹分析系统 1.型号：Autoscan Zeiss Z2m 2.生产厂家：澳大利亚Autoscan 3.存放地点：古地磁实验室 4.联系人：林秀斌 5.主要技术参数： （1）Microscope: Zeiss Axio-Imager Z2m motorized research microscope; （2）Stage: High-precision 2 axis motorized microscope stage; （3）Controller: Electtonic controller; （4）Joystick: Joystick controller/Keypad; （5）Software: Trackworks automated image acquisition module and Fast-Tracks automated track counting module; （6）Camera: Soft Imaging System UC 30/CV1。 6.适用范围：适用于纳米级矿物晶体表面损伤统计分析；单偏光/正交偏光岩石薄片分析、拍照等。