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检测下限的教材定义.doc

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检测下限的教材定义

检测下限的定义比较混乱,有人认为检测下限是方法能检出的最小含量(或最低浓度),计算方法也不一致;仪器制造厂商认为应该用仪器的噪声水平表示检测下限;有人认为用分析空白表示痕量分析的检测下限更为合理等等。 美国国家标准局有关方法,将检测下限分为以下三种类型: 1. 仪器检测下限 即相对于背景,仪器检测的可靠的最小信号,通常用信噪比来表示, 2N 或 3N 值定义为仪器的检测下限。 2. 方法检测下限( MDL ) 即某种分析方法所能检测的最小浓度,也即方法的最小检测浓度。通常用外推法可求得方法的检测下限,其方法如下: 在标准溶液低浓度范围内,选择三个浓度,每一个浓度水平上分别重复测定,求出每个浓度水平的标准偏差 S1 、 S2 、 S3 。用线性回归法作出回归线,然后把回归线延长,外推至与终坐标相交,求得 S0 ,定义 3 S0 为方法的检测下限。其中, S0 为浓度为零时的空白样品的标准偏差。 MDL = 3 S0 。 3. 样品检测下限 即相对于空白可检测的最小样品含量,也就是样品最低检测浓度。定义样品检测下限为三倍空白标准偏差,即 3σ 空。 4. 相互关系 仪器检测下限与方法检测下限这两个概念,在选择仪器和方法时,是重要的参数。 样品检测下限不仅与方法检测下限有关,而且与空白样品中空白含量以及空白波动情况有关,只有当空白含量等于 0 ,样品检测下限等于方法检测下限,然而空白含量往往不等于 0 。 样品检测下限 = 方法检测下限 + 空白含量 因此,方法检测下限由外推法求得,可能是很低的浓度或含量,但由于空白含量的存在以及空白波动的存在,样品检测下限可能要比方法检测下限大得多。 在实际使用过程中,样品检测下限要比方法检测下限要有意义得多。当被测样品种类变化时,测定所用的试剂和环境变化时,即使用同一分析方法,样品检测下限可能要相差很大。 5. 定量检测下限 美国国家标准局定义 10 倍空白标准偏差为定量检测下限,即 10σ 空。有关痕量分析中报告数据的准则,参见下表。 报告数据的准则 分析物浓度 可靠性范围 < 3σ 空 可疑检测范围(不能接受) 3σ 空 样品检测下限(定性检出) 3σ 空 ~ 10σ 空 半定量 10σ 空 定量检测下限 > 10σ 空 定量范围

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