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* 畫線並標註 均值用水平實線線:一般為黑色或藍色實線。 控制限用水平虛線:一般為紅色虛線。 盡量讓樣本數一致,如果樣本數一直在變化則會如下圖: 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 * * C過程控制用控制圖解釋 C1分析數據點,找出不穩定證據 C2尋找並糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 建立p圖的步驟C * 尋找並糾正特殊原因 當從數據中已發現了失控的情況時,則必須研究操作過程以便確定其原因。然糾正該原因並盡可能防止其再發生。由於特殊原因是通過控制圖發現的,要求對操作進行分析,並且希望操作者或現場檢驗員有能力發現變差原因並糾正。可利用諸如排列圖和因果分析圖等解決定問題數據。 * 重新計算控制限 當進行初始過程研究或對過程能力重新評價時,應重新計算試驗控制限,以更排除某些控制時期的影響,這些時期中控制狀態受到特殊原因的影響,但已被糾正。 一旦歷史數據表明一致性均在試驗的控制限內,則可將控制限延伸到將來的時期。它們便變成了操作控制限,當將來的數據收集記錄了後,就對照它來評價。 * D過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進過程能力 D4繪制並分析修改後的過程控制圖 建立p的步驟D * 過程能力解釋 偶因和異因並存 找出異因 只剩偶因 運用控制圖 過程穩定 (連25點不超限) 計算過程能力 * 計算過程能力 對於p圖,過程能是通過過程平均不合率來表,當所有點都受控後才計算該值。如需要,還可以用符合規範的比例(1-p)來表示。 對於過程能力的初步估計值,應使用歷史數據,但應剔除與特殊原因有關的數據點。 當正式研究過程能力時,應使用新的數據,最好是25個或更多時期子組,且所有的點都受統計控制。這些連續的受控的時期子組的p值是該過程當前能的更好的估計值。 * 評價過程能力 過程穩定,不良率維 持在一定的水平當中 降低不良率 採取管理上的措施 降低偶因,如此才能 縮小控制界限,降低不良率 縮小控制限 * 改善過程能力 過程一旦表現出處於統計控制狀態,該過程所保持的不合格平均水平即反應了該系統的變差原因─過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制)變差問題的分析方法不適於診斷影響系統的普通原因變差。必須對系統本身直接採取管理措施,否則過程能力不可能得到改進。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術。但是如果僅使用計數型數據將很難理解問題所在,通常儘可能地追溯變差的可疑原因,並借助計量型數據進行分將有利於問題的解決 * 繪制並分析修改後的過程控制圖 當對過程採取了系統的措施後,其效果應在控制圖上明顯地反應出來; 控制圖成為驗證措施有效性的一種途徑。 對過程進行改變時,應小心地監視控制。這個變化時期對系統操作會是破壞性,可能造成新的控制問題,掩蓋系統變化後的真實效果。 在過程改變期間出現的特殊原因變差被識別並糾正後,過程將按一個新的過程均值處於統計控制狀態。這個新的均值反映了受控制狀態下的性能。可作為現行控制的基礎。但是還應對繼續系統進行調查和改進。 * 不合格品數np圖 “np”圖是肉來度量一個檢驗中的不合格品的數量,與p圖不同,np圖表示不合格品實際數量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同,當滿足下列情況可選用np圖 不合格品的實際數量比不合格品率更有意義或更容易報告。 各階段子組的樣本容量相同。“np”圖的詳細說明與p圖很相似,不同之處棄如下: * A收集數據 受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應按照生產間隔和反饋系統而定。樣本容量應足夠大使每個子組內都出現幾個不合格品,在數據表上記錄樣本的容量。 記錄並描繪每個子組內的不合格品數(np)。 * B計算控制限 * 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋:同“p”圖的解釋。 D過程能力解釋:過程能力如下: * 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 不合格品數np圖 * 缺陷數c圖 “c”圖內來測量一個檢驗批內的缺陷的數量,c圖要求樣本的容量或受檢材料的數量恆定,它主要用以下兩類檢驗: 不合格分佈在連續的產品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪,玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點),以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。 在單個的產品檢驗中可能發現許多不同潛在原因造成的不合格(例如:在一個修理部記錄,每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格)。 主要不同之處如下: * A收集數據 檢驗樣本的容量(零件的數量,織物的面積,電線的長度等)要求相等,這樣描繪的c值將反映質量
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