定量荧光录井技术.ppt

定量荧光录井技术 目 录 一、荧光分析概述 一、荧光分析概述 二、荧光录井技术的产生与发展 二、荧光录井技术的产生与发展 二、荧光录井技术的产生与发展 二、荧光录井技术的产生与发展 二、荧光录井技术的产生与发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 三、荧光录井仪器发展 四、定量荧光检测原理及影响因素 五、定量荧光录井技术简介 1、三维图谱 一种直观的三维立体投影图，空间坐标X、Y、Z轴分别表示发射波长、激发波长和荧光强度。从图上容易观察到荧光峰的位置和高度以及荧光光谱的某些特征，可作为一种有价值的光谱指纹技术。但不易提取任何激发－发射波长对所对应的荧光强度信息。 2、等值图谱 以平面坐标的横轴表示发射波长，纵轴表示激发波长，平面上的点即表示由两个波长所决定的荧光强度。将荧光强度相等的各个点连接起来，便在Em－Ex构成的平面上显示了由一系列等强度线组成的等值图谱。能获得较多的信息，容易体现出与普通的激发图谱、发射图谱的关系。 三维图谱 等值图谱 五、定量荧光录井技术简介 3、发射图谱 采用激发波长激发后检测一定范围发射波长段不同波长所对应的荧光强度，然后记录荧光强度对发射波长的关系曲线，所得到的图谱即称为发射图谱。二维荧光录井就是采用固定激发波长Ex＝254nm时测得的发射图谱，即Em-INT图谱。左下图是提取某样品在激发波长为300nm、350nm和400nm时产生的发射图谱。 4、激发图谱 荧光物质的激发图谱是指采用不同的激发波长激发而引起物质发射某一波长荧光的相对效率。也就是固定发射波长，改变激发波长，所得的荧光强度与激发波长的关系曲线即为激发图谱，即Ex-INT图谱。右下图是提取某样品在发射波长为320nm、370nm和420nm时产生的激发图谱。 发射图谱 激发图谱 五、定量荧光录井技术简介 5、密集椭圆 对于等值图存在一个以（Ex1, Em1）为中心的椭圆（图19红色区域），这一椭圆称之为对应于一个已知分布的密集椭圆。一个二维域上分布所对应的密集椭圆反映了该分布的基本特征：椭圆中心即分布的重心；椭圆长轴方向为该分布在二维域上的主方向；椭圆长短轴长度之比反映分布在主轴方向的密集程度，比值越大则密集程度越大；椭圆面积反映该分布在二维域上的密集性，若有二维域中的二个分布，它们有相同的重心，而且一个椭圆完全处于另一个椭圆中，那么前一分布将称为比后者具有较大的密集性。可见，一个三维荧光谱的密集椭圆可以比较全面的反映出其在xy平面上的分布特征。 密集椭圆 二维荧光和三维荧光的区别在于：前者采用254nm单点激发光EX，得到的是EM-INT二维图谱，后者则将激发光EX也作为变量，可在200-800nm范围内任选激发波长，得到的是EX-EM-INT三维图谱。与二维荧光相比，三维荧光的最大优势在于能够得到不同油质原油和钻井液添加剂的最佳激发波长，从而可以得到样品的最大荧光强度，并能够提供更丰富的样品信息。 五、定量荧光录井技术简介 （三）参数意义 1、二维定量荧光 荧光波长λ（nm）：反映不同性质原油的出峰位置。在300-340nm范围内出峰为轻质油成份（即轻质峰）；340-370nm范围内出峰为中质油成份（即中质峰）；荧光波长大于370nm。 主峰波长λ (nm)：荧光谱图中荧光强度最大值对应的波长。 荧光强度INT：原油中荧光物质所发射荧光的强弱，反映被测样品中含荧光物质的多少。 油性指数R：中质组分主峰荧光强度与轻质组分主峰荧光强度的比值；油性指数反映原油性质的轻重。R= INT1(360nm) / INT2 (320nm) 含油浓度C(mg/l)：指1克岩石样品中被正己烷试剂萃取出的原油物质的含量；是由荧光强度（INT）派生的参数，C=a*INT±b 荧光系列对比级别n：反映1克样品中含油荧光级别的高低；是由含烃浓度（C）派生的参数。n=15-(4-LogC)/0.301 五、定量荧光录井技术简介 2、三维定量荧光 荧光强度、含油浓度、荧光系列对比级别等的含义与二维定量荧光相同，但由于三维荧光采用多激发波长，而发射波长总大于激发波长，且最佳激发波长一般均在320nm以后，因此原先二维荧光油性指数的定义不再适用。 油性指数R：发射波长350nm～500nm最大荧光强度与发射波长200nm～350nm最大荧光强