射线检测工艺及综合题.ppt

射线检测工艺及综合题 综合题 1 某厂一台编号为V-06-04的夹套式反应釜，结构见图2-1。容器筒体材质为1Cr18Ni9Ti，规格为Φ500×8×1800mm。夹套材质为20R，规格为Φ600×6×1600mm。制造时采用手工电弧焊焊接，A、B类焊接接头均进行20%射线检测。用户在安装现场验收时发现壳体A1焊缝有一表面深孔，要求安装单位对A1焊缝进行100%射线检测扩探。 请回答下列问题： 1．选择A1焊缝被夹套覆盖部分的透照方式，并说明其理由。 答：⑴ 透照方式是源在外透照方式。 ⑵ 因源在外透照这种方式可使胶片贴紧A1焊缝表面，可获 得最小的几何不清晰度。 2．一次透照长度和透照次数应如何确定？ 答：⑴ 根据透照焦距及AB级检测技术的透照厚度比K值 （K≤1.03）确定一次透照长度L3。 ⑵对于A1焊缝两端未被夹套覆盖部分，各透照一张； ⑶ 对于A1焊缝被夹套覆盖部分 最少透照次数=1600÷L3）。 3．对像质计的摆放有哪些要求和注意事项？ 答：⑴ 未被夹套覆盖部分的的焊缝像质计置于射线源侧表面。 ⑵ 透照被夹套覆盖部分的焊缝时，像质计应置于胶片侧工 件表面（应通过对比试验确定胶片侧放置像质计应识别 的丝号），在像质计上适当位置加“F”标记，使“F”标记 的影像与像质计的标记同时出现在底片上，并在检测报 告中注明。 4．制造厂现有RF-200EG·S2定向X射线机、Ir192γ射线探伤机各一台，应选用哪台射线探设备？并说明理由？ 答：应选用X射线机。因为A1焊缝采用源在外透照方式，对于 A1焊缝未被夹套覆盖部分、被夹套覆盖部分部的照厚度分别 为8mm和14mm，若采用Ir-192射线源透照，不符合 JB/T4730.2-2005第4.2.2条的规定。 工艺题 1 制造厂为某乙烯装置预制的裂解炉辐射炉管结构如图1-1所示，炉管材质为P91（相当于9Cr1MoVN），辐射炉管的规格Φ73×9mm，焊缝宽度为10mm，余高为2mm。设计规定每个对接焊接接头进行100%射线检测，执行JB/T 4730.2-2005，验收等级为Ⅱ级。 可提供的检测设备和材料有：RF300EG- B2F·2型周向X射线机、Se-75γ射线探伤机（现有活度80Ci）和Ir-192γ射线探伤机（现有活度80Ci）；Agfa-D7、Agfa-D4（胶片规格为360×80mm、120×80mm）。曝光曲线见图1-2、图1-3、图1-4。 请制定该炉管对接焊接接头的射线检测工艺。 请将射线检测工艺参数填写在提供的工艺卡中（见表1-1），并将射源放置、散射线屏蔽和像质计使用、标记摆放等技术要求填写在工艺卡说明栏中。 一、射线检测技术级别 按JB/T 4730.2-2005第3.8.1条规定，应采用AB级射线检测技术。 二、B3焊缝透照工艺确定原则及参数： 1. 透照方式选择： ∵Do=73mm＜100mm，且T=9mm＞8mm， ∴按JB/T 4730.2-2005第4.1.4条规定，应选择“小径管环向对接焊接接头垂直透照方式重叠成像。 2.透照厚度： W=2T=18mm 3.探伤机型号选择： 因工件结构尺寸和射线机的限制，且W=18mm，按JB/T 4730.2-2005第4.4.2条规定，采用Se-75射线源。 4.胶片与增感屏选择： 因采用γ射线透照，且工件材质（P91）具有裂纹倾向，按JB/T 4730.1-2005第4.2.4条和JB/T 4730.2-2005第3.5条的规定，选用T2类胶片（Agfa-D4型胶片）和前、后屏厚度均为0.1mm的铅箔增感屏。 5.像质计型号与像质计灵敏度值确定： 因W=18，采用双壁透照，可实现像质计在射线源侧工件表面放置，查JB/T 4730.2-2005表6，应识别的像质计丝号为11号，故选用FeⅢ型像质计或Fe11专用像质计。（当将像质计置于胶片侧工件表面时，由JB/T 4730.2-2005表7得应识别的像质计丝号为12号，故选用FeⅢ型像质计或Fe12专用像质计。） 6.透照焦距： 取F=600mm 7.透照次数： 按JB/T 4730.2-2005第4.1.5条规定，应相隔120°或60°透照3次。 8.曝光时间确定： 由图1-3查得W=18mm、F1=700mm时的曝光量E=600Ci·min， ∴F2=600mm时的