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2009年第 12 期 ·控制与检测 ·
文章编号 : 100 1 - 2265 (2009) 12 - 0069 - 04
CRC校验算法在 I/O 扩展上的应用
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林凯宏 ,游林儒 ,王立松
( 1. 华南理工大学 自动化科学与工程学院 ,广州 5 10640; 2. 吉阳自动化电子研发部 ,深圳 518055)
摘要 :为了克服锂电池卷绕机控制器 I/O 点占用资源多、扩展性不强等特点 ,采用 CPLD 处理 I/O 数据 ,
并通过串行协议与主控制器 FPGA 交换 I/O 信息的方法实现 I/O 扩展 。研究如何将循环冗余校验
( )
CRC 用于保证串行 I/O 数据传输的可靠性 ,并用 V erilog实现了 CRC 校验算法 ,给出了仿真结果 。实
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际应用结果表明 ,该方法即实现了对大量 I/O 的处理 ,具有 I/O 扩展时的高度灵活性 ,又保证了数据传
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输时的高可靠性 ,取得了理想的应用效果 。 3
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关键词 : CRC;循环冗余校验 ; I/O 扩展 ;卷绕机 2
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中图分类号 : TP273 文献标识码 : A
The A pplica tion of CRC A lgor it hm to I/O Exten sion
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L IN Kaihong , YOU L ingru , W
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