双密度小波中线的表面粗糙度分离技术-哈尔滨工程大学学报.pdf

第30卷第4期 哈尔滨工程大学学报 VoL30№．4 2009年4月 ofHarbin Journal University Apr．2009 Engineering 双密度小波中线的表面粗糙度分离技术 李海燕，刘国栋，刘炳国，浦昭邦 (哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院，黑龙江哈尔滨150001) 摘要：微纳米检测技术的发展对机械加工表面评定技术提出了更高的要求，准确地分离出表面粗糙度信号显得尤为重要．现有 的小波滤波中线存在着滤波结果与采样点起始位置有关的问题．针对于此，提出了一种基于双密度小波中线的粗糙度分离方法， 用于工程表面信号的分析，克服了采样点位置对分离结果的影响，提高了分离粗糙度、波度等频率成分的准确性．仿真及实验结 果表明，新的双密度小波中线基准能够平移不变的提取表面粗糙度，准确性相比于其他方法提高4％． 关键词：表面粗糙度；双密度小波；表面评定；中线；波度 中图分类号：THl61；TB92文献标识码：A文章编号1006-7043(2009)04-0401-05 Surface basedon roughnessseparationtechnology wavelettransform double—density LI Hai-yan，LIUGuo—dong，LIUBing—guo，PUZhao—bang ofElectrical and Instituteof (School EngineeringAutomation。HarbinTechnology，Harbin150001，China) the of in from Abstract：With developmentmiero／nano—metrology，accuracyseparatingsignalsindicatingroughness machinedsurfaceshasbecomemoreandmore waveletmeanlineobtained methodsis important．The usingexisting onthe locationofthe novel methodbasedon a dependantstarting sample．Thispaperpresents roughnessseparation adouble wavelet surface methodovercomestheinfluence transform(DDWT)for density engineeringanalysis．This of locationon resultsand of andother sampling separation improvesaccuracyroughnesssignalseparation，waviness andtestsshowed novelDDWT shift—in