系统联调－宇宙线实验.ppt

在EMC触发联调时： 问题：在电源上拔插示波器或吸尘器，触发机箱出现满错误现象。 原因：有些触发插件对L1及CHK做宽度检查，有些未做。 解决：相关插件对相关信号做6个时钟宽度的检查。 在线实验室EMC触发联调 左边是发4kHz的L1在线数据读出监控曲线，其横坐标是时间，纵坐标是事例率，可以看出读出比较稳定。因为在有些时候插件中的数据没有能及时读出，出现了FULL信号，因而L1信号被屏蔽，造成一小段时间读出事例速度下降。图4右边是发6kHz的L1在线数据读出监控曲线，因为事例率较高，读出压力大，因而出现FULL比较多，曲线上有多次下降的现象。 高事例率实验 与每次读出1个事例相比，CBLT每次读出多个事例数，可以减少总线响应信号，从而提高数据读出速度。经测试，每次读出16个事例比较合适。在这种情况下，从GTL发固定频率约为8kHz的假L1，系统可以长时间连续取数，没有FULL出现。图的横坐标是读出速率，按每次16个事例折合事例速率约6.944kHz。 高事例率实验 降低阈值，增加事例率（MDC电子学有数据） 把CBLT每次读出事例数设置为16，逐步降低漂移室电子学的时间阈值，希望能把事例率稳定在正式运行取数时的4kHz左右。因为受FULL信号的影响，事例率在3.5~7kHz之间波动，测得漂移室电子学的平均事例长度约100Bytes，属于击中数比较多的数据长度。 经过这两种方法测得的传输速度表明，在线数据读出可以满足BESIII系统在4kHz事例率下的数据读出要求。 高事例率实验 EMC-Q插件阈值为“100”，由GTL发固定频率的假L1：8000Hz时，读出事例率最高为：8.092KHz。EMC及TRG未出现满情况 EMC-Q插件32通道的一半通道（16道）阈值为“100”，另一半（16通道）阈值设为“0”，然后由GTL发固定频率的假L1：8000Hz时，读出事例率在1.536KHz-7.625Hz之间变化，其间EMC机箱有满信号送出，并自行恢复；TRG机箱无满信号送出。（检验FULL功能） 事例率变化可能是由于网络堵塞造成的数据不能及时读出，从而引起读出事例率变化。 高事例率实验 长期稳定性运行测试 日期： 2007/08/30 时间： 08:45-12:35 Run Number: 2808 Event Rate: 832 Event Number运行过程中，数据没有存储；中间没有出现错误及其它不正常情况。 宇宙线实验时电子学主放插件TC的达峰时间 达峰时间：1.6-1.75 μ EMC触发实验室实验电子学刻度信号 达峰时间：1-1.2μ 因为达峰时间加大，1μ以后过阈信号丢失，也就是小信号丢失。且因为信号尾巴拖长，Nclus=1信号有重复出现问题。 1μ以后过阈的能量触发条件不能送出，小能量产生的触发条件可能丢失。 因上升沿加大50％，加上信号达峰时间晃动较大，TC时间不确定性范围加大。 与EMC探测器和电子学讨论后，决定调整触发前端板TCBA的模拟通道（394路）的元器件参数，并按照探测器的现状修改FPGA逻辑，加大TC的展宽到400ns。 将来L1会多延迟500ns 给出，幸好各电子学和触发流水线深度可以改变。在实验后期取的数据都是改变深度以后取的。L1相对事例的延迟时间～7μ。 触发TCBA板改造，由龚文萱负责在实验板上确定参数，在张月圆、 关北菊三人共同努力，现在已经完成数千个器件的更换，正在逐板调试，小系统联调后，争取准时安装在谱仪上。 EMC触发系统检查 安装初期，从在线直方图上在一层中连续4道，而且相邻的4层MAP图相同方位都有‘不到底的凹坑’，分布位置符合触发单元的组合。触发输入信号MAP图发现10几道这样的死道，但不同RUN死道位置发生变化。 用电子学刻度信号逐道检查时，信号情况与灌图时现象并不一致。后经两个组反复检查，尤其是电子学的努力，找到是由于在写入幅度调整数据不稳定造成的。修改后解决。 触发硬件连接也发现几处接触不良的地方。 阈值设定 能量峰值时间散开的宽度～14个时钟周期（下图），信号达峰时间晃动达360ns。因此，TC的时间不确定范围也会增大。 能量数据读出采用一定窗口内的寻峰读出 BLK8的能量谱（左）和峰位时间谱（右） 改变电子学前放数字电位器和刻度信号的幅度得到的输入信号峰值的时间，晃动200ns。 能量块能量峰值去台阶前后直方图 EMC桶部TC环6和环7的击中信息直方图 单窗口读出 东西端盖击中信息直方图 西端盖触发有一死道，触发连接问题。 阈值名称 阈值说明 阈值设置 R_BEtot_H 桶部总能量高阈 0X3AF R_EEtot_H 端盖总能量高阈 0X028 R_Etot_L 桶部端盖总能量低阈 0X03C R_Etot_M 桶部