统计制程管制SPC培训教材.ppt

統計製程管制（SPC）;SPC（Statistic Process Control）的功用;1.確立製造流程;製程品質調查的方式;製程能力（Process Capability）;何謂製程能力指數（Cpk）;何謂製程準確度（Ca）;範例：某內胎押出工程之長度規格為750±10mm，5月份實績X±3σ＝748 ±8mm，6月份實績753 ±8mm，求Ca值？ ANS：5月份Ca=（748-750）/10 =- 0.2=- 20﹪ （B級） 6月份Ca=（753-750）/10 = 0.3= 30﹪ （C級） ;製程精密度Cp（ Capability of Precision）：衡量規格公差範圍與製程變異寬度相差程度 ;範例：某內胎押出工程之長度規格為750±10mm，7月份實績X±3σ＝749±3×3mm，8份實績754 ±3×5mm，求Cp值？ ANS： 8月Cp＝（10×2）/（6×3） ＝1.11（B級） 9月Cp＝（10×2）/（6×5） ＝0.67（C級） ;範例：某電鍍品鍍金厚度規格為50±2.0mm，3月8日生產實績X±3σ＝為53±1.5mm， 3月9日生產實績為51±2.3mm，求Cp值？;精密度（Cp）與不良率之關係;範例：某電鍍品鍍金厚度規格為0.70±0.2mm，製程生產實績X±3σ為0.738±0.2175mm， 求Cpk值？ ;管制圖的分類，管制圖分兩種： 計量值管制圖〈分平均值及全距管制圖、平均值及標準差管制圖、個別值及移動全距管制圖、中位值及全距管制圖〉 計數值管制圖〈分百分不良率管制圖、nP不良數管制圖、C缺點數管制圖、U單位缺點數管制圖〉 計量管制圖適用的狀況是：資料是可量測的，且數據形式是連續性的。 計數管制圖則適用於資料大半只能判定為良或不良，數據不為連續量的狀況，一般常用於外觀檢查。;決定管制對象;製作管制圖的注意事項： 正確選擇管制項目、以免無效管制。 訂定合理之管制界限，以免產品或製程條件超出規格。 訂定適當的檢查間隔，以免造成資源（人力）浪費或者不良品發生而不知道。 對於製程持續加以監控，以期在問題未發生前進行對策的處理。;管制方法與取樣頻率;管制圖繪製原則;平均值與全距管制圖;平均值與全距管制圖;先確立製程穩定且製程能力足夠 選擇量測點：在每一個製程中會有很多量測點，但如何確定量測點是有效的且重要的呢？有以下數點可供參考： 要找出製程中最重要的點，不要使管制圖淪為“日記”。 或許該點不易量測，此時可考慮使用代用特性。 此點在現在為量測點，但並不表示永遠是量測點。 ;規劃資料圖表格式： 在進行管制圖的製作時，一份好的表格應包括之背景資料如下（ASQC所用之表格）： 日期 品名或零件 量測單位 操作者 其他相關資料 ;平均值;繪圖與解析階段 Step1.蒐集欲管理項目之數據-取100個以上。3~5個為一組，共分成20~34組，測定出每一個樣本值（X） 在進行管制圖的製作時，由於需要“連續取樣”，因此通常一個樣本會包含3~5個。;Step2.依測定時間順序排列數據 Step3.計算各組平均值（X bar） Step4.計算各組全距（R） R＝X的最大值（方框）－ X的最小值（圓框） ;平均值;Step5.計算全部平均值（X double bar） ；計算各組全距的平均值（R bar） 計算出全部數據的平均值及平均全距。在本例分別為平均值=0.58，平均全距為=0.13。;Step6.查係數D4 、 D3，計算全距管制界限 先求出全距的管制圖，如此可知“非隨機性變異”是否存在，假使超出則代表有“非隨機性變異”，若不穩定則不須檢查平均值是否在監控（亦即是否超出管制界限）。此時應著手於製程穩定度的改善工作。 全距的中心線＝ 全距的管制上限為 全距的管制下限為;全距是否都在管制界限內：;Step7.查係數A2 ，計算平均值管制界限 平均值的中心線＝ 平均值的管制上限為 平均值的管制下限為 ;平均值是否都在管制界限內：;Step8.繪製管制界限及中心線，平均值管制圖在上，全距管制圖在下 平均值管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 全距管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 在管制線末端記入CL、UCL、LCL符號及其數值，較清晰易懂;Step9.管制圖點繪 首先找出最大和最小的平均值，在找出最大和最小的全距，以便確定座標的範圍及最小刻度，如此才可將所有資料全部點繪在圖表中。;最大平均值=0.63 最小平均值=0.54 總平均=0.58 UCLx=0.652 LCLx=0.507;Step10.計算製程準確度Ca