YS/T 666-2008工业镓化学分析方法　杂质元素的测定　电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf

犐犆犛７７．１２０．９９ 犎 １２ 中华人民共和国有色金属行业标准 ／ — 犢犛犜６６６ ２００８ 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 ㅤㅤㅤㅤ 电感耦合等离子体原子发射光谱法 — 犆犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊狅犳犪犾犾犻狌犿犳狅狉犻狀犱狌狊狋狉犻犪犾狌狊犲 狔 犵 — 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犻犿 狌狉犻狋犲犾犲犿犲狀狋狊 狆 狔 犐狀犱狌犮狋犻狏犲犾犮狅狌犾犲犱 犾犪狊犿犪犪狋狅犿犻犮犲犿犻狊狊犻狅狀狊犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱 狔 狆 狆 狆 ２００８０３１２发布 ２００８０９０１实施 国家发展和改革委员会 发 布 ／ — 犢犛犜６６６ ２００８ 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 １ 范围 　 本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。 本标准适用于工业镓［ （ ） ］中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围 ９９．９％ ％ ９９．９９５％ ≤ω ≤ 见表 。 １ 表 １ 元 素 测定范围／％ 元 素 测定范围／％ 　　 　　 硅 －４ －２ 镁 －４ －２ ７×１０ ～１×１０ ５×１０ ～１×１０ 钠 －４ －２ 钙 －４ －２ ５×１０ ～１×１０ ５×１０ ～１×１０ 钾 －４ －２ 铝 －４ －２ ５×１０ ～１×１０ ８×１０ ～１×１０ ２ 规范性引用文件 　 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的