YS/T 1160-2016工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法.pdf

ICS29.045 H 12 中华人民共和国有色金属行业标准 / — YST1160 2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 ㅤㅤㅤㅤ 射线衍射 值法 X K — Silicon owder-uantitative haseanalsis p q p y — Determinationofsilicondioxidecontent ValueKmethodofX-ra diffraction y 2016-07-11发布 2017-01-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 / — YST1160 2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射 值法 K 1 范围 本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。 , 。 本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定 测定范围为≥1% 2 规范性引用文件 。 , 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本文 。 , ( ) 。 件 凡是不注日期的引用文件 其必威体育精装版版本 包括所有的修改单 适用于本文件 / 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GBT8170 3 方法原理 ㅤㅤㅤㅤ , , 。 , 当 射线照射晶体物质时 将产生衍射 每种晶体物质都有其特定的衍射特征 在一定的条件下 X 。 , 混合物质中某物质所产生的衍射强度与含量成正比 测量衍射线强度 当被测物质与已知含量的参考 , 。 物质的衍射线强度确定后 可对被测物质进行定量分析 4 试剂与材料 , 。 4.1 无水乙醇 分析纯 ,