电工电子基础实验A次课周(数字电路实验概述).pptVIP

组合逻辑电路实验提示 一、P171—1 测试74LS00与非门的逻辑功能 74LS00是四2输入与非门(手册P84图4-25管脚图) 测试时Vcc与GND间接通5V电源（14脚接+5V，7脚接地）， 作静态测试：4个与非门的8个输入端分别依次接实验箱K1~K8，4个输出端分别依次接实验箱CZ21~CZ28中的4个。按下表检测其逻辑功能： 2、短路故障 短路故障是指连线或连线点短路造成电路出现异常的现象。 例如：电源正端和地短路会造成电源电压为零；局部逻辑线混连，会出现逻辑混乱错误。有的短路故障比较隐蔽，需要耐心仔细分析和耐心寻找才能发现。 最常用查找短路故障的方法是：将电路断电后用万用表的欧姆档测电阻值，若发现电路中无直接电气连接的两节点之间电阻值为零（或极小），可判为短路。 3、集成电路芯片故障 集成电路芯片故障是指集成电路芯片的功能不正常。这类故障的特点或是： 集成电路烫手； 集成电路电源端的电压过低； 芯片的输入端有规定的逻辑电平而输出没有正确的逻辑电平。 通过用手触摸，或是测量电源管脚的直流电压，或是输入逻辑信号进行测试就可发现故障点或可疑点。之后，更换可疑集成电路芯片，再测电路进行判断。 由于芯片的管脚折断或折弯而未能插入实验板引起的故障往往体现在芯片的逻辑功能不能实现，这种故障需要进行仔细查找才能找到。 当怀疑芯片坏了时，对于SSI或功能简单的MSI，可以通过测试它的逻辑功能，迅速做出判断。检查时，一般需要将被查对象从电路中分离出来，即将其输入、输出同其他电路断开，再根据其逻辑功能进行检查。 例如，检查一个多输入“与非”门，当其输入全“1” 时，输出应为“0”；如果有一个输入端为“0”，则输出为“1”。通过检查如果不符合上述情况，就说明该门已经损坏。 又例如，在检查8选1数据选择器时(使能端确已接好)，使地址输入分别为000～111，看输出是否分别与D0～D7相同，即可做出判断。对于复杂的MSI或LSI，可以用专用的集成电路测试仪来进行测试。 集成电路芯片故障 4、检查电路的一般方法 对于组合电路，主要检查输入、输出信号之间的逻辑关系是否能得到实现。 对于时序电路，应首先检查时钟信号是否加上，以及是否满足电路对时钟的要求（时钟脉冲频率、高低电平、上升下降时间等）；再查使能端、清零端、置位端(不能悬空，避免引入干扰)是否按要求接好。然后按照电路的逻辑功能，分别检查各级电路的输入、输出关系引脚，用示波器（置DC偶合）看电压是否正常。 在检查电路时，应按照电路的逻辑功能进行推理分析，一步步缩小故障范围，最后找出故障加以排除。这样查错的方法，比盲目地反复检查布线要迅速、可靠得多。 对于有故障的多级电路，为了减少调测工作量，可先把可疑的范围分作两个区，通过检测，判定前后两个部分究竟哪一部分有故障；然后再将有故障的部分继续进行对分检测，直到找出故障为止。 检查电路的一般方法 对于CMOS电路要预防锁定效应。CMOS电路特有一种失效模式——锁定效应，也称作可控硅效应，这是器件的固有的故障现象。其原因是由于器件内部存在正反馈。消除了正反馈形成条件，即可预防锁定效应。正反馈形成条件可能是下述情况之一： 输入信号电压高于VDD或者低于VSS； 用手触摸输入引脚； 加直流信号和脉冲信号的顺序不正确。 断开电源，稍后重加电源并纠正错误的操作方法可消除锁定效应 检查电路的一般方法 在实验中完全不出故障是不可能的。要求我们做到： 实验前准备充分，实验时操作细心，将故障减少到最低限度。 出现故障时应开动脑筋，自觉应用所学知识，仔细分析，认真检查，积累经验，不断提高解决问题的能力。 检查电路的一般方法 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 11脚 13脚 12脚 8脚 10脚 9脚 6脚 5脚 4脚 3脚 2脚 1脚 输出 输入 输出 输入 输出 输入 输出 输入 谢 谢！ 投影到此结束 电工电子基础实验A第一次课 数字单元电路实验基础知识 数字单元电路实验基础知识 一、实验箱数电实验部分 实 验 箱 电 源 单电源加“+12V”，双电源加“±12V” 以万用表测量值为准！ 电源输出接口 电源开关 如果电源指示灯灭，可能的原因有： A、外接电源错误； B、电源输出短路； C、内部电源损坏。 左上角 实 验 箱 电 源 标注“+5V”的插孔已经和电源的“+5V”连接。 标注“GND”和“地”的插孔已经和电源的“GND”连接。 右半部分布 实 验 箱 信 号 源 使用前 需短接 右下部 逻 辑 电 平 显 示 逻辑电平显示：输入高电平：发光二极管亮 输入低电平：发光二极管灭。 不能用于测量电路中电平的高低！ 需要测量时请用万用表或示