材料研究与测试方法试卷.docVIP

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.. word教育资料 *武汉理工大学考试试题纸( B 卷) 课程名称 材料研究与测试方法 专业班级 材科0602-03 题号 一 二 三 四 五 六 七 八 九 十 总分 题分 20 30 10 20 20 100 备注: 学生不得在试题纸上答题(含填空题、选择题等客观题) 一、填空(20分) 1、电磁透镜的分辨本领主要取决于电子波的 和由焦距与后焦面上光阑孔直径确定的 角大小。 2、在选区成像时,中间镜的物平面在物镜 面上,即 光阑平面上;拍摄电子衍射花样时,通过降低 镜的 ,使中间镜的物平面处在 镜的 面上,即 光阑平面上。 3、多晶体电子衍射花样为 ,单晶衍射花样为 组成。 4、暗场成像是指让 通过物镜光阑,而把 遮挡掉得到图像衬度的方法。 5、在物相定性分析中,检索ASTM卡片时,有两种索引,分别是 和 。 6、在X-ray衍射仪中,纪录衍射强度的计数器通常有三种,分别是 、 、 。 7、像差分成几何像差和色差,几何像差主要是指 和 。 二、简答题(30分) 1、简述X-ray反射(衍射)与可见光反射的区别。 2、透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何? 3、简述单晶电子衍射花样的分析步骤(相机常数未知)。 三、以CoKα(λ=0.15405nm)线照射某黄铜试样的(400)面: 当ψ=0°时,2θ=150.4°;当ψ=45°时,2θ=150.9°, 试计算试样表面的宏观应力。(已知:a=0.3695nm,E=8.83×104MPa,ν=0.35) (10分) 四、作图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。 (20分) 五、画出fcc晶体[011]晶带的标准电子衍射花样,取N=h2+k2+l2≤12的斑点。 (20分) 武汉理工大学教务处 试题标准答案及评分标准用纸 课程名称 材料研究与测试方法 ( B 卷) 一、每空1分,共20分 1、波长、孔径角; 2、像平面、选区光阑、中间镜、激磁电流、物镜、焦平面、物镜光阑; 3、一系列不同半径的同心圆、排列整齐的斑点; 4、衍射电子、透射电子; 5、数字索引、字母索引; 6、正比计数器、盖革计数器、闪烁计数器; 7、球差、像散。 二、30分 1、10分 答: a、X-ray衍射中,只有一定数目的入射角能产生反射。 3分 b、X-ray衍射中,不仅是晶体表面,内层原子也参与。 3分 c、强度不同,X-ray衍射强度微弱。 2分 d、本质不同,X-ray衍射是由于相干散射而产生的。 2分 2、10分 答: 主要有三种光阑:A聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。(3分); B物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用:提高像衬度;减小孔径角,从而减小像差;进行暗场成像。(4分); C选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用:对样品进行微区衍射分析。(3分) 3、10分 答: a、选择靠近中心且不在一直线上的几个斑点,测量其R,利用R2比值规律确定点阵类型和斑点所属{h k l}; 3分 b、进一步确定(h k l).先假定其中一个斑点指数h1 k1 l1 ,而第二个斑点的指数h2 k2 l2 c、 其余斑点指数通过矢量运算得到。 2分 d、任取不在一条直线上的两个斑点,确定晶带轴指数〔u v w〕。 2分 三、10分 答: 2分 2dsinθ=λ sinθ=λ/2d=0.17903÷(2×0.0924)=0.9688 θ=75.6° 2分 2分 2分 MPa/(°) 2分 四、20分 答: 设薄膜有A、B两晶粒。B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件,或B晶粒内满足“双光束条件”,则通过(hkl)衍射

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